[FAQ] [参考译文] 【常见问题解答】AM62A7：P-FAIL 和 E-FAIL 错误块标记

了解我们的 MCU+ SDK 产品中如何以及在何处实现 BBM（坏块管理）：  【常见问题解答】AM62A7：NAND 闪存器件的坏块实现 

对于擦除 API：

我看到用户将块编号传递给函数、然后该函数找到下一个要擦除的良好块。 例如、如果传递的当前块为块编号 5、则假设存在一个场景、其中块如下所示：

… 、 5、6 、7、8、 9、10、  （红色表示坏块，绿色表示好块）。

然后、擦除功能将擦除块编号 7。 在擦除块 7 时、有两种情况：

• 场景 1：擦除块 7 时、擦除成功、我们退出函数。
• 场景 2：在擦除块 7 时、块会出现故障、因此擦除不成功、所以我们现在将块 7 标记为错误、因此尝试擦除块 8。
• 这会在循环中持续、直到我们擦除一个正常块或达到最大块计数的末尾。

对于写入 API：

用户将要写入写入写入函数的偏移量和字节数传递给该函数。 根据两个输入、计算块编号。 假设块编号为 5、并假设与上述情况相同：

… 、 5、6 、7、8、 9、10、  （红色表示坏块，绿色表示好块）。

在本注释中、要写入的块将是第 7 个 1。 有两种情况：

• 场景 1：写入成功、我们退出函数。
• 场景 2：如果写入时出现故障、则会将该块标记为 Bad 并退出函数。 这表示写入失败。

请注意、在擦除或写入 API 内部、我们表示块已损坏的方式是读取 E-Fail 和 P-FAIL 寄存器的状态。

对于闪存：  W35N01JWTBAG

就擦除而言、会检查 E-FAIL 位。

请在以下路径中浏览文件内容： C：\ti\mcu_plus_sdk_am62ax_11_01_00_16\source\board\.meta\flash\serialFlash\W35N01JWTBAG.json

在这里您会遇到两个变量/参数：“srProgStatus"和“和“srEraseStatus"。“。

它们的值 3 和 2 分别表示位号。 该值与上面的数据表片段中显示的值匹配。

当我们执行擦除操作时、 Flash_nandOspiCheckEraseStatus 负责检查 E-FAIL 位。 如果它检查并发现 E-Fail 位为 1、则将该块标记为错误。

同样、对于写入/编程操作、 Flash_nandOspiCheckProgStatus 负责检查 P-FAIL 位。 如果设置为 1、则将块标记为坏。