This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] TDA4VH-Q1:TI TDA4 主域 MCU 解锁控制模块脚踢保护寄存器失败

Guru**** 2868470 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/processors-group/processors/f/processors-forum/1633265/tda4vh-q1-ti-tda4-main-domain-mcu-unlock-control-module-kick-protection-register-failed

器件型号: TDA4VH-Q1
Thread 中讨论的其他器件: TDA4VH

img_v3_02104_82b24085-87ad-443a-bbb1-c9f767a65b7g.jpg

尝试解锁 CTRLMMR_LOCK2_KICK0 和
CTRLMMR_LOCK2_KICK1 保护寄存器根据此手册页面、然后使用 ON-OFF 重新启动老化测试。 解锁失败的概率为 1/1000。  

LOCKI_KICKO[0]未锁定位未设置为 1h。

即使成功写入后、偶尔也可能会在写入主计时器 12 时钟源选择寄存器时失败。  写入 9、但读回为 0  

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好:

    由于今天的 TI 假日、预计响应会延迟。  

    此致

    Suman

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好:

    从该报告中、 在某些测试中很少观察到解锁故障。   几个问题:

    1. 是在多个 TDA4VH 样本还是仅在一个 TDA4VH 样本上观察到此故障?
    2. 这是在 TI EVM 上观察到的还是仅在定制硬件上观察到的?
    3. 老化测试是否意味着一个完整的下电上电?

    您能否提供一个示例或共享所使用的代码和过程?  这不是以前报告过的问题。  从统计学上来说… 我想这首先是编码问题、然后可能与复位或上电序列违例有关。  其他根本原因也是可能的、但可能性很低。

    请回答 3 个问题并提供测试或更多相关信息。

    此致、
    理查德·W·
  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    多个 TDA4VH 样本遇到问题。

     2.定制硬件

    3.  完整的下电上电

    我怀疑这可能是代码的问题。 但是、这段代码一年多没有修改。

    这是一段有问题的代码。

    这是我添加的重写代码、可以避免出现问题。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好:

    第二个工作序列对系统条件似乎更稳健、因为它会重试整个序列。

    这似乎是由于某种原因,写入没有登陆或被清除在第一个案例导致解锁失败。  一些 代码可能出现错误:可能一些其他内核也同时访问寄存器、或者可能时钟或电源未完全稳定(一些其他代码在继续执行此代码之前未完全等待状态)、或者可能一些复位序列未完成。 添加多个完整的解锁序列(写入+检查)和一些延迟可能会确保瞬态条件已通过(其他内核争用,时钟稳定,复位)。

    此致
    理查德·W·