[参考译文] DRA821U：在没有 DDR 的情况下进行 DRA821 POST/BIST 测试

您好 Luke、

指定的工程师在 Wed 上休假、因此请预计此主题的响应会延迟。

此致

Suman

Luke、

使用 DRA821U 对其电路板进行周期性测试（–60°C 至 90°C 之间）。 我们需要你们的支持来找出这些失败的原因。  [/报价]

DRA821 的工作温度范围是–40°C。 –60C 甚至不推荐使用。

正在使用什么软件？ 冻结发生时是否有任何日志？ 是否有崩溃日志？

eMMC/DDR 也会在该温度下引起问题。

- Keerthy

我们将对 DRA821 中的 U-Boot 环路运行后期测试。 处理器可以在不进行快速循环的情况下以–60 和 90 的速度运行。 当我们循环温度从下限到上限时、它将卡在中间温度范围内、例如–20C、这不接近截止值。 在卡滞之前、电压都是正常的、但我们收到一些 BIST 问题、这些问题可能与 DRA 或 DDR 存储器有关。 有时它会自行重置、但最终始终会卡住。

团队有以下问题：

1；是否可以确定 DRA821 是在内部挂起还是在外部总线？

2：DRA821 上是否有任何可以提供上述信息的引脚？

我把下面的所有信息告诉我,如果你需要任何其他.

您输入的任何信息尚未通过？ 您共享了文档吗？

- Keerthy

我们将对 DRA821 中的 U-Boot 环路运行后期测试。 处理器可以在不进行快速循环的情况下以–60 和 90 的速度运行。 当我们循环温度从下限到上限时、它将卡在中间温度范围内、例如–20C、这不接近截止值。 在卡滞之前、电压都是正常的、但我们收到一些 BIST 问题、这些问题可能与 DRA 或 DDR 存储器有关。 有时它会自行重置、但最终始终会卡住。

以下是我们的自定义映像 U-boot 在处理器卡住之前返回的 POST 错误。

“开机自检错误：BIST 启动测试、启动时运行 BIST 时检测到错误“

“开机自检错误：内存移动 1 个地址、移动 1 个地址数据比较错误“

团队有以下问题：

1；是否可以确定 DRA821 是在内部挂起还是在外部总线？

2：DRA821 上是否有任何可以提供上述信息的引脚？

Nicholas、

我将请教我们的硬件专家了解上述问题。

- Keerthy

您好：

当发生挂起时、通常的做法是尝试通过 JTAG 连接到运行测试的内核并检查其状态。  您首先尝试暂停正在运行的内核并检查其状态、如果您连接到 DAP 端口并使用其主设备读取端点存在问题。  如果无法暂停内核（假设为 R5）、通常表示 CPU 到终点故障。在这种情况下、您的 DDR 似乎可能已崩溃、从而导致故障。

在 Code Composer Studio 中、您是否知道我应该专门在 R5 中探测哪些寄存器来查找这些错误、还应该在寄存器中找到这些值的含义？

您需要知道有关预期代码执行的信息、以判断连接时看到的内容。  如果没有这些信息、就很难理解所看到的内容。  您应使用未去除符号的 ELF 文件来查看符号、或至少查看构建的符号映射文件。 我建议查看 PC、并使用映射文件或符号查看它的功能。  也许它在某些函数是轮询一个从不来的状态,也许它卡在一个中止循环,...  对于给定的 PC 你应该看看指令之前和之后的 PC。  查看与这些指令相关的寄存器、看看它们是否与器件地址对应（如果是）哪些对应。 此外、如果这些寄存器相对于函数上下文具有“垃圾“非法值、这些值可以作为有关所发生情况的线索。

如果您不知道代码、并且您主要是在尝试检查硬件。  通常最好使用您自己的裸机或简单代码。  比如仅在内部存储器上运行的 memtester、则建议使用仅 DDR。 这样结构化和受控代码的故障有助于了解存储器等情况是否有问题。  例如、如果某些通道的 DDR 时序很小、那么您在测试期间往往会看到与弱位相对应的错误。

如果您正在运行黑盒测试、但未完成前期工作、则可能会被限制为通过/失败。  以及如何访问硬件和软件。  通过监控电源和时钟来查看它们是否在温度变化过程中保持稳定、这是一种了解某些外部元件是否可能被释放的方法。  我记得在过去看到一些外部 SMPS 安装错误会导致调节问题、从而导致类似的崩溃。   在硬件和软件中会有许多可能的问题点。  因为出现焊接问题等问题、在多个电路板上进行测试往往是有意义的。

好的、非常感谢您有有关如何在 Code Composer Studio 中设置这些建议的 TI 文档？ 我不熟悉该工具。

您好：

这里有一个专门讨论启动和使用问题的 CCS 论坛。  还提供了一些学院视频内容、有助于逐步完善该工具。

Code Composer Studio 论坛 — Code Composer Studio︎ —TI E2E 支持论坛

Code Composer Studio Academy

以下是我们在快速循环热测试期间电路板卡住的两次运行的数据。 它会卡在范围内的温度下、并且会出现存储器和 BIST 错误、然后才会卡在我们进行循环测试后的中间。 我们想知道如何解释程序计数器寄存器数据、因为它看起来与我们熟悉的 RAM 地址不同。 接下来要探索的一件好事是什么？ 您对 DRA 问题的任何见解都将有助于我们的团队创造一些改进机会。