Other Parts Discussed in Thread: AM62P
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部件号： AM62P
尊敬的 TI 专家：
我们知道、有 2 个过程可以解锁 HS-SE 器件的调试/JTAG：
1.通过安全 ROM 的 SBL 调试证书进行 JTAG 解锁;
这是通过使用解锁调试扩展配置生成 SBL 映像：
在安全 ROM 禁止 SBL 期间、要检查调试设置、请决定使用此扩展打开 JTAG。
2.通过 SYSFW 调试证书解锁 JTAG。
SYSFW (TIFS) 运行后、如果器件从 CCS/Probe 工具接收到解锁命令、则 TIFS 将验证来自“signing_config.txt “的签名、并包含调试参数：
我们注意到这两个选项（上面的 2 个图） 具有类似的参数、但SBL 调试扩展只有一个是“debugctr“、另一个是“debugtype“。
它们是相同的参数吗？
如果是、则它们是否都具有以下枚举值：
另一个问题：
对于上表,“ debug_preserve“是什么意思（通过锁定寄存器保持当前设置）? 保持 JTAG 锁定/解锁状态？
提前感谢！
