[参考译文] AM263P4：模数转换器 — 单端 MCU 受管的内部校准机制

您好、Erik、

感谢您的提问。 让我直接回答每一个问题。

1.内部校准的工作原理

AM263P4 ADC 在晶圆测试时经过出厂修整 — 无需用户管理的校准。 上电时、存储在 OTP (eFUSE) 存储器中的修整值会自动加载到寄存器 ADCINLTRIM1–6 中。 这些校正透明地适用于 ADC 内核内部的每次转换、然后结果才出现在 ADCRESULT 寄存器中。 无需软件干预。

数据表最小值/典型值/最大值规格（第 6.8.2 节）已在整个工作温度范围 MCUAD_SPEC.pdfMCUADC 准确度.pdf 内反映了这些出厂修整。 这是开环修整补偿、运行时没有有源反馈环路。

一个重要说明：出厂修整涵盖 ADC 内核误差（偏移，增益，INL/DNL）。 它不涵盖基准电压容差、输入信号链偏移或 PCB 寄生效应等系统级误差。 可以通过 mcu cal.pdfmcuadc accurity.pdf 下的可选过程来解决这些问题。

2.可选的用户校准机制

如果需要比出厂修整提供的精度更高、可使用两种可选机制：

A.零偏移校准 (ADCOFFTRIMx)

这会使用内部 VREFLO 基准 MCUAD_SPEC.pdf 消除残余 ADC 内核偏移：

1. 设置 ADCOFFTRIMx =+112 (0x70)
2. 以最大 ACQPS 对内部 VREFLO 执行 512 次转换
3. 将累积结果除以 32
4. 设置 ADCOFFTRIMx = 112 减去步骤 3 的结果

每个修整步长等于 (VREFHI 减去 VREFLO)/65536、对 12 位和 16 位模式都有效。 此校正应用在 ADC 内核内部、不会对吞吐量产生影响。

B.后处理块 (PPB) 偏移校正

对于每通道系统级失调电压移除 MCUAD_SPEC.pdf：

• 每个 PPB 包含一个 10 位有符号 OFFCAL 寄存器（范围：–512 至+511 LSB）
• 结果公式：ADCRESULT = ADC 原始输出减去 OFFCAL
• 在 12 位模式下、输出在 0x000/0xFFF 处饱和
• 通过 ADCPPBxCONFIG 将任何 PPB 与任何 SOC 关联

这是去除由外部信号调节（如分压器或运算放大器输入失调电压）引入的失调电压的推荐方法。

c. CAL 引脚比例式方法

AM263P4 提供专用 CAL0/CAL1 引脚、用于应用已知的外部精密电压 MCUAD_SPEC.pdf。使用关系：

V_ref_measured = V_in x 2^12 /V_code

这消除了大约+/–2%的内部基准误差、并按比例验证了完整的测量链。

3.校准后的精度计算

12 位单端模式的标准转换公式 MCUAD_SPEC.pdf：

ADCINx =(ADCRESULTy x (VREFHI - VREFLO)/4096)+ VREFLO

错误预算摘要 MCU cal.pdfMCUAD_SPEC.pdfMCUADC 准确度.pdf：

• 输入桶电容器大于 160 pF（内部采样电容器约为 8 pF；建议大于 20 倍比率）
• ADC 引脚具有低源阻抗
• 根据 RC 时间常数调整的 ACQPS 采样窗口大小 (12 位稳定至少需要 9 x R_source x C_sample)

有关详细指导、请参阅 SAR ADC 输入电路指南 SPRACY9—该指南专为 C2000 编写、但直接适用于 AM263x SAR ADC 架构。

为了进一步完善这一点、将有助于了解：

• 目标精度规格（例如，+/–0.5%、+/–2LSB、+/-XmV）
• VREFHI/VREFLO 配置（内部 1.8V 或外部基准）
• ADC 输入引脚上的源阻抗和滤波拓扑
• 适合您的应用的工作温度范围

此致、

Zackary Fleenor