Other Parts Discussed in Thread: AM62D-Q1, SYSCONFIG
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器件型号： AM62D-Q1
主题： SysConfig 中讨论的其他器件
我们正在运行 DDR-MARGIN-FW 工具套件 v1.9.0 以评估基于 AM62D-Q1 的定制电路板上的 DDR 性能。 到目前为止、我们已成功运行读取测试、获取测量日志、并使用包含的 python 脚本生成 PDF 测试报告。 现在、我们正在尝试使用这些测试报告为我们的电路板建立通过/失败标准、但在我们找到如何解释这些报告或将其与安全运行要求相关的任何文档中都没有明确规定。 下面是我们目前的交叉方式：
在 AM62D 的 LPDDR4 指南应用手册中、表 3-3 指定了在给定 DDR 时钟速度下具有最小宽度和高度的菱形读取眼图。 我将这些参数作为读取测量值的规格。
在对生成的报告进行简单解释时、我猜概述部分中的“Worst Delta mV“应高于 表 3-3 中的读取眼图模板 VdIVW、而“Worst Delta UI“应高于 表 3-3 中的读取眼图模板 TdIVW。 这是正确的解释吗？
假设是这样、我们的电路板在我们计划的 DDR 速度 1866MHz 下、大多数 DQ 线路都出现故障。 如果我们将速度降低到 1600MHz、则会遍历相对于表 3-3 中 1600MHz 阈值的所有 DQ 线。
为了进行完整性检查、我使用默认 EVM DDR 配置对 AM62D EVM 运行读取测试。 有趣的是、1866MHz 也没有通过这一标准。 相对于我们的电路板、EVM 上的电压裕度似乎更强、但 EVM 和我们的电路板都被眼 宽触底、 不符合规格。 我将附上 EVM 和电路板 @ 1866MHz 的 PDF 报告。
如果我对这些图解的解释不正确、您能否提供有关建立通过/失败标准的见解？ 如果正确、测量值低于阈值的严重程度是多少？ 到目前为止、我们一直以 1866MHz 时钟速度使用我们的电路板和 EVM、没有发现任何问题。 是否有任何可能屏蔽这些错误的检测和重试机制？
关于所附报告的一个注释：为了根据规格建立更同类的比较、我们修改了 parse_eye_diagrams.py 脚本以计算和叠加适合通过区域的最大菱形、并在末尾添加了通过/失败页面 这是一个更严格的要求、但即使是“最差 Δ mV“和“最差 Δ UI“值也不符合表 3-3 规范。
