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器件型号：PROCESSOR-SDK-AM335X 您好！
我使用 https://github.com/MicrochipTech/USB-Hub-Linux-Examples/blob/master/General%20USB%20Examples/USB%20High%20Speed%20Electrical%20Test/USB_Linux_HSET.c 上的测试程序。 (我们使用此程序是因为原理图中有 USB 集线器。)
可以发送测试数据包。 但是、由于 与 https://e2e.ti.com/support/processors-group/processors/f/processors-forum/346131/swing-voltage-of-usb-2-0-testmode-eye-pattern 相同的原因、测试失败。
根据 TRM、似乎有一个用于降低摆幅电压的寄存器。 但我不确定它是否适用于我的测试程序。 (libusb 测试模式是否与 BIST 模式相同？)
BIST 寄存器- 30'b Reduced_swing R/W 0h 当1时、在 BIST 模式下 TX 摆幅减小
是否有其他方法来配置 USB 摆幅电压？
谢谢！
－霍华德
