[参考译文] AM3358-EP：L1 &amp；L2高速缓存奇偶校验&amp；ECC

admin

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器件型号：AM3358-EP

您好！

我希望仔细检查缓存奇偶校验/ECC 故障的报告方式、因为这很难测试。我的理解是：

-要在 L1奇偶校验故障时启用异常，我只需在辅助控制寄存器中设置 L1PE

-要在 L2奇偶校验或 ECC 故障时启用异常，我只需设置 L2高速缓存辅助控制寄存器中的“奇偶校验或 ECC 使能”位21。

是否需要执行任何其他步骤来生成异常？

是否有一种简单的方法来测试它、例如在 CP15中使用 L2奇偶校验/ECC 阵列操作？

0 admin 5 年多前

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Mat、您好、您可能可以在 ARM 网站上找到有关此内容的更多信息、因为这些问题以核心为中心。此外、请确保使用 TRM 第3.1.4节中介绍的安全监控器调用来访问这些 ARM 内核寄存器。由于访问受限、我认为没有一种简单的方法来测试缓存中的奇偶校验或 ECC。

此致、
James

0 admin 5 年多前

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尊敬的 James：

谢谢、是的、我将使用 TRM 中的代码序列来启用奇偶校验和 ECC。我在 ARM 网站上没有找到太多内容、因此我想知道它是否是针对实现者(即 TI)的。我注意到缓存有大量 BIST 支持、但我不确定它是否可通过代码提供给终端用户、其读数与制造商测试的读数类似。

0 admin 5 年多前

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Mat、您好、是的、BIST 通常不适用于最终用户。很抱歉、我在这里没有一个好的答案。没有内置的方法来注入错误来测试 ARM 内核 ECC

此致、
James

0 admin 5 年多前

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MAT、请单击此处确认：e2e.ti.com/.../316839

此致、
James

0 admin 5 年多前

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谢谢、这回答了问题。

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