工具/软件:Linux
大家好、
我需要你的帮助。
以下两个 NAND 闪存 在项目中被引用。
a) MT29F4G08ABAEAWP: 每页4096字节,每页224字节 OOB
b)。 TC58NVG2S0HTA00: 每页4096字节、每页256字节 OOB
移植 NAND 参数后、已使用 Linux 中嵌入的 MTD 测试进行测试。
但是、测试后会出现一些错误。
这里是 MTD 测试代码的测试结果。
| MTD_nandbiterrs.ko | MTD_oobtest.ko | 其他 | |
| MT29F4G08ABAEAWP | 好的 | 好的 | 好的 |
| TC58NVG2S0HTA00 | NG、第一个 OOB 数据仅在写入数据区域期间损坏。 | NG、 1位翻转存在超过10个单元的数据 |
好的 |
从测试结果来看、我不知道实际原因是什么。 因此,我 怀疑 GPMC 的时间是否合理。 但我没有找到有关如何在规格中配置 nand 时序的详细信息。
您能不能?检查 TC58NVG2S0HTA00的时序参数
非常感谢大家的参与。
1) 1) MPU 设置时序
2) Toshiba TC58时序


