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[参考译文] TMS320DM8168:复位问题、可能与热相关->请提供有关调试的建议

Guru**** 2542620 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/processors-group/processors/f/processors-forum/606027/tms320dm8168-reset-problems-maybe-thermal-related---please-advice-thoughts-on-debug

器件型号:TMS320DM8168

客户在生产中遇到产品问题。  请提供有关调试给定时钟输入电路的想法和建议:

我有一个器件重置频率很低、并且(我看到另外2个器件)。  我已将其缩小到控制我们的复位的 CPLD、然后发现它仍然复位、而 DSP 正在将(RSTOUT)驱动为低电平(网络 DSP_RSTOUT_L)。  这是因为我们的晶体输入 Y4 (27MHz)下降(27MHz 接地)。 我在 Crystal 输出和 DSP 复位输出上用了一个示波器来确认了这一点。 晶振输出死机(变为0)、DSP 检测到它并将 DSP 输出复位驱动为0。 这将关闭我们的系统。  当 CPLD 退出时发生的 DSP 复位时、我们的终端(RS-233)将停止。  这恰好与热相关。 如果我让系统冷却、它将工作更长时间、然后重置(分钟)。 如果热、它将重新启动并在启动后10至15秒复位。  

 

DSP 数据表显示、DSP 复位可根据坏的晶振输入进行驱动。 这就是我们找到它的方式。  请参阅数据表片段:


 

 

我将晶体更改为新晶体、它在室温下工作。  在室中温度为40°C 时失败。

 

然后、我想确认2个电容器(18pf)是否正常并更换它们。  自过热(40C 至50C)以来、它未发生故障。 然后斜升至70C。  

 

我现在移除了一个电容 C506、以查看电容是否开路、温度下是否有不良焊接。

 

当我用探头接地来探测这些电容器时、它会影响振幅。  我还移除了接地、振幅也不同。 我用2个探头探测电容器的两侧、发现相位几乎为180度、但并不精确。

 

我测量了原始电容器、使用 我的手持仪表测量了17到18pf。  

 

 

我们的电路:


 

晶体为27MHz。  Saronix NES6NED1-27.0000-18。  18pf 负载电容。

电容器为18pf 2%电容器。  ATC 制造商。  600l180-GT200。

 

有关晶振 specs.e2e.ti.com/.../SARONIX_5F00_NES6NED1_2D00_27_5F00_0000.pdf、请参见随附的