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器件型号：AM3517 我遇到这样的情况 ：我们在所有引导分区中都存在大量数据损坏、因此 AM3517代码不会加载和/或引导到我们可以询问分区以查看如何分发 ECC 或数据是什么样的位置。 (了解腐败的性质和可能的模式、这可能会导致我猜测导致腐败的原因...因此、我甚至可以知道在哪里"开始"放置示波器探头！ ：))
我是否有工具/方法可以用于从 NAND 闪存中读取数据(按分区、即使作为一个整体) 然后将其保存到文件中、以便我可以在好卡片和坏卡片之间执行此操作、然后执行某种简单的八进制转储|比较以查看差异。 我认为我们的只读分区(如 u-boot 和我们的操作系统)不应因一段时间内的任何更改而受到影响、因此它们应该完全匹配。 (我们知道它们不是因为在启动期间有不可纠正的 ECC)
我考虑的另一种调试方法是在 SDCARD 上创建引导映像并从那里引导...然后从那里尝试在 NAND 闪存中安装和查询各种分区。 这听起来是否合理、我必须考虑哪些问题。 (有人告诉 我，在创建 NAND 时，我需要按照确切的规范在 SDCARD 上创建分区..... 大小、ECC 等)
抱歉、我是 AM3517和整个嵌入式环境的新手、因此这些问题可能是愚蠢的问题。。。 但我尝试用谷歌搜索所有这些以及更多的问题、提出的问题比答案更多、
是否有一个介绍 SDCARD 与 NAND 的构建的新文档... 我能不能只是采用 NAND 所使用的过程/脚本并进行一些小的环境更改、在 SOM 中加载和 SDCARD、并期望引导环境"在那里结束"、而不是 NAND。 (它真的不能这么简单...对吧？)
对以上任何一项的见解都非常赞赏.....
Quentin
