我们使用的是 DRA742、BSP 版本(7.04.00.03)、QSPI 闪存:STMicro N25Q128。 我们正在定制板中执行长期测试(系统将执行一些测试、然后执行断电、上电以及重复测试)。 有时、QSPI 闪存探针在引导阶段失败、因此我无法通过"MTD_DEBUG"命令访问内核上的闪存。
由于测试过程中温度会变化、因此故障原因是否可能是 因为温度?
现在、CPU 温度为32和95度时发生故障(并非总是如此、系统还可以在低于32 或高于95 温度时探测闪存成功)。 我每天都会检查规格。 它 应在-40 ~ 105度下正常工作。
当闪存探头失败时、我可以看到"ti-QSPI 4b300000.QSPI:写入超时"和"SPI_master spi32766:无法从队列传输一条消息"这些消息。
以下是引导阶段=> e2e.ti.com/.../flash_5F00_probe_5F00_success.txt 上探测器成功的日志
以下是 引导阶段=> e2e.ti.com/.../flash_5F00_probe_5F00_fail.txt 时探测器失败的日志
此致、
肖恩