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器件型号：PROCESSOR-SDK-AM335X 1) 1)截至今天2017年9月28日、TI 或任何其他人是否在 CCS 外部具有类似于 NXP 的 DDR3测试应用？
2) 2)当其他人认为可能存在 DDR 问题但未使用 DDR 硬件 测试仪时、在启动前如何测试 DDR3？ 需要快速进行 R/W 测试、如果不容易配置、则需要快速测试 DDR3是否存在可能的间歇行为或潜在噪声。
在引导 uboot 过程中看到随机故障、无法确定 这是坏的 DDR 还是 uboot 重定位问题。 但是、根据在 uboot 中添加 printf 进行调试、uboot 代码的不同部分的引导失败。 因此、我们希望测试 DDR3并确保 IR 正常工作。 它的作用类似于驱动程序中的空指针问题、在该问题中、故障在引导时随机更改为不同的代码段、就像内存损坏一样。
3) 3)在基于 BBB 的定制电路板上完全进入 uboot 提示之前、是否有人看到过上述行为？ 无论在尝试从 mini SD 引导时通过 JTAG 或串行控制台使用 CCS、都是如此。
使用 CCS 和 GEL 文件测试所有 DDR 时、由于某种原因、估计需要一个多月的时间。 不确定原因。 只需要在可以使用 JTAG 或其他器件测试 DDR 的窗口上运行快速、但不一定简单的操作。 查看使用 memtester、rawhammer 或 https://github.com/auselen/down-to-the-bone 进行裸机测试、但所有这些都可能会耗费大量时间来转换为裸机应用或针对 随机故障进行修改以进行 DDR3测试。
4) 4)是否还有其他建议？
