[参考译文] AM3352：有关 RTC_PWRONRSTn 有效时间的问题

此外、根据内部主题、我还有几个后续问题

1) 1)您能否澄清故障率、故障板数量？
2) 2)故障时间0故障还是这些电路板在一段时间内停止显示 RTC XTLOUT？
3) 3)您能否清楚地指定使用晶体和处理器进行了哪些交换实验。 我想确保放置故障处理器会使已知良好的电路板发生故障-该故障确实会随器件而发生。
4) 4)我看到他们尝试更改晶体、但没有什么不同、他们是否尝试更改晶体供应商
5) 5)另请详细说明温度灵敏度关系。
6) 6)您询问 PWRONRST 时序相关性-您是否看到良好板与不良板之间的行为不同-如果是、请分享波形。

此致
Mukul

您好、Mukul、

我将通过电子邮件检查更新

谢谢、此致、
海登

在之前发布的问题上、复制一些更多的内部讨论  

1) 1)您能否澄清故障率、故障板数量？
[RESPONSE]目前、共有六个 AM3352器件显示此问题。
[TI]有6块电路板？

2) 2)故障时间0故障还是这些电路板在一段时间内停止显示 RTC XTLOUT？
[RESPONSE]在使用特定 AM3352器件的电路板时、当问题发生时、RTC_XTALOUT 信号在连接电源线后从不会振荡(保持上拉)。
重复测试(电源线连接/断开)时、特定 AM3352器件的故障率在重复测试期间约为60~70%。
[TI]好的、因此故障电路板从0开始就无法可靠工作。

3) 3)您能否清楚地指定使用晶体和处理器进行了哪些交换实验。 我想确保放置故障处理器会使已知良好的电路板发生故障-该故障确实会随器件而发生。
[RESPONSE]我们的质量团队将发送信息。

4) 4)我看到他们尝试更改晶体、但没有什么不同、他们是否尝试更改晶体供应商
[RESPONSE]我们还检查了晶振交换、但故障现象是相同的。 检查了坏板上的晶体单元(频率、物理损坏、去容测试) 来自供应商、
他们说对他们的晶体来说是可以的。
[TI]您能否分享有关已完成测试的更多详细信息。 此外、我的请求是查看是否也可以从其他供应商处尝试晶体。

5) 5)另请详细说明温度灵敏度关系。
[RESPONSE]当前问题板显示正常室温下的症状。
[TI]在高温或低温下、故障是否变得更好或更糟？

6) 6)您询问 PWRONRST 时序相关性-您是否看到良好板与不良板之间的行为不同-如果是、请分享波形。
[RESPONSE]我们今天拿到了电路板。 我们将发送详细波形。 (在前面的中、我们检查了良好与不良之间的 PWRONRST 时序是否相同。)

[TI] RTC LDO 需要1ms 来稳定 CAP_VDD_RTC。 您知道在这种情况下他们是否使用内部 LDO 吗？