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器件型号：PROCESSOR-SDK-AM335X 我正在研究系统中 BBB 的一个问题、该系统正在针对快速瞬变的抗御能力进行测试。
在硬件级别、我看到 DP 和 DN 线路的处理器发布控制、在软件级别(Linux、最近构建)、我看到器件断开。 我在各种不同的器件中看到了这一点、全速和低速已插入 BBB 主机端口。 我还看到"无效 OTG 器件"消息(奇怪的是、由于 USB1_ID 连接到低电平、此端口只能作为主机。
使用高速多通道示波器并采取噪声预防措施、我能够记录瞬变的时序并验证线路上的 SE0事件、 但是、所有这些都不符合 USB 2.0全速/低速规范时序 Se0>2us<2ms (有关详细信息、请参阅 USB 组织提供的 USB 20.pdf 规范第7.1.7.3段)。
我看到断开连接到不稳定的200ns 信号时的明显响应。
我的问题是：在 AM333X 中实现的2us SE0计时器在哪里-它应该是在软件中响应断开中断，还是在 PHY 中(可能使用可设置的计时器)。 我无法自己找到这些信息、因此我希望获得任何帮助。
这也可能是高速断开信号(不应启用该信号、因为我们只连接了低速或全速器件)、而是在该信号中对差分电压进行采样。
感谢您提供任何指导
Rgds
Ian
