[参考译文] RTOS/TDA2P-ACD：DDR 应力测试集成到 SBL 中

您好、Rishabh、
感谢您的反馈。 据我了解、对于两个应用程序的 linker.cmd 文件、在 SBL_app 中、所有分配都是针对 OCMCRAM1 (RWIX)完成的：org = 0x40300000、len = 0x00080000、对于 DDR 应力测试应用程序、所有分配都是大胆的
Board_IO_DELAY_DATA：{*(Board_IO_DELAY_DATA)} at>OCMCRAM1
Board_IO_DELAY_CODE：{*(Board_IO_DELAY_CODE)} at>OCMCRAM1配置为 OCMCRAM3，因此如果我将这两个部分移至 OCMC3，是否会发生冲突？
另外，您还想告诉我，“SBL 在执行期间加载应用程序映像，这将覆盖 SBL 代码本身”发生在哪一点？
此致
Hrishikesh

你好

我已将 DDR 应力测试应用集成到 SBL 中并构建它。 现在、当用户按任意键时、它将跳转到 DDR 测试应用程序、否则将跳转到应用程序。

我使用 CCS 调试为 TDA2Px-EVM 的 SDcard 引导 nom 引导模式构建的 SBL 二进制文件。 但是、当我运行 DDR 应力测试时、它会在测试失败时给出结果。 我在这里附上了 UART 的日志。 如果我遗漏了任何东西、请告诉我。

此致

Hrishikesh

e2e.ti.com/.../teraterm2.txt

您好，
此外、当我测试了在相同设置上独立构建的 DDR 应力测试应用程序时、它又成功了。
此致
Hrishikesh

您好、Risabh
我在使用 CCS (调试)模式时插入了 SD 卡、当我为电路板通电时、日志会出现。 但是、我已经按照您的建议尝试了使用 MLO、但结果仍然相同。 我有以下错误日志
"在 src 和 dst 地址处的值匹配错误
src 地址0x403252E4的值为 X55
dst 地址0x9FC00110的值为 xFFFFFFFF
EDMA 测试在地址0x9FC00110上失败"这是否意味着测试通过了先前的内存段？
此外、在 DDR 测试应用中、我已对 EDMA 初始化调用进行了注释
EMDAsetRegion(地区)；
EDMA3Init (base_address、0)和在 SBL_tda2xx_main.c 中，在调用 DDR 测试应用程序后，我正在调用 EDMA3Deinit()。
此致
Hrishikesh

您好、Hrishikesh、

您能解释一下您到底在尝试什么吗？
是使用 GEL 还是 SBL。
您使用的是 SBL 还是 U-boot？
您在 DDR 测试应用中进行了哪些更改
此外、初始化后的 EDMA 应再次初始化而不进行去初始化。
您是否检查过此场景？

此致、
Rishabh

您好、Risabh
为了进行测试和调试(中断 SBL ->应用程序流)、我使用的是 CCS 和 GEL 文件、现在该功能正常、我已切换到 SBL。
2.我已将 DDR 测试应用程序文件 DDR_test.c 和 DDR_main.c (从 main.c 重命名)添加到 SBL Build pdk_01_08_01_06\packages/ti\boot\SBL_auto_SBL_app\src\tda2xx 中。 这些文件使用同一文件夹中的 lnk_tda2xx_a15.cmd，而不是 main()，我已将其重命名为 DDR_testApp()，每当用户中断来自 UART 终端的 SBL 流时，它就从 SBL_tda2xx_main.c 调用。
对 DDR_testApp()的调用来自 if (0U != sblEntryPoints.Entrypoint[SBLLIB_CORE_ID_MPU_CPU0]){循环。
我还测试了情形 EDMA 一旦初始化、应在不进行去初始化的情况下再次进行初始化。 ，此处 EDMA 的重新初始化发生在 DDR_main.c 中，但结果是相同的，即当我选择 DDR 测试时，它失败，并在先前的更新中打印消息。 但是如果我测试独立的 DDR 测试应用程序，它工作正常，没有显示故障。
我希望这种情况在我的设置中消失。 请就此提供您的反馈。
此致
Hrishikesh