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[参考译文] AM6442:关于 A53高速缓存 ECC 的诊断

Guru**** 1138100 points
Other Parts Discussed in Thread: AM6442
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/processors-group/processors/f/processors-forum/1241023/am6442-about-the-diagnosis-of-a53-cache-ecc

器件型号:AM6442

您好、专家

我们正在使用 am6442芯片开发产品、产品需要 SIL3安全认证。  我正在研究基于 A53内核缓存 ECC (包括 L1高速缓存和 L2高速缓存)的诊断。 首先,我的想法是注入错误通过设置的寄存器 A53(CPUACTLR.L1DEIEN 和 L2ACTLR.L2DEIEN ).

然而、在阅读 ARM 手册(https://developer.arm.com/documentation/ddi0500/j/Cache-Protection/Error-injection)and相关讨论博文(e2e.ti.com/.../am6442-what-is-the-impact-of-injecting-l2-cache-exceptions)之后、该方法可能会影响系统的正常运行。 我想咨询 TI 专家。 对于 A53高速缓存 ECC 的诊断、您有什么好的想法吗? 期待您的回复,谢谢。

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    我在 TI 的用户手册里发现 TI 芯片支持错误注入、但是我不知道怎么使用。 您能否提供一种方法并说明此方法的影响?

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    错误注入是软件诊断库(SDL)的一部分、是 MCU+ SDK 的一部分。   有关 说明和示例、请参阅 software-dl.ti.com/.../SDL_ECC_PAGE.html。 通常、此设计用于在安全功能运行前运行错误注入测试、例如、在带有激活安全功能的正常运行前进行初始化。

    作为 SIL 级别的注意事项、包括 A53在内的单个 AM64x 器件主域旨在满足 SIL-2级别的随机故障。 请参阅安全手册中的第2节:

    "包括足够的功能安全机制、可满足整个器件(MCU 域和主域) SIL-2的随机故障完整性要求。"

    为了满足 SIL-3要求、还需要进一步的元件、例如第二个 SIL-2通道。

     佩卡

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    感谢您的及时回复。 我还有两个问题可以帮您回答、谢谢。

    1) 1)我在 SDK 文档中仍未找到 A53 L2 cache ECC 诊断和 L1 Dcache ECC 诊断的任何相关说明。 您能说明一下 eccMemType 和 memSubType 代表 A53 L2缓存和 A53 L1 Dcache 的什么值吗?

    2) 2)在系统正常运行期间、我们每小时对 A53 L2缓存和 L1 Dcache 执行 ECC 诊断是否可行?  ECC 诊断方法是否会影响系统的正常运行?