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SDL BIST 示例应用程序在执行期间中途(在 Main R5F 1的 PBIST 故障插入测试处)暂停、并在 SDK 8.6上失败。
此问题的修复过程分为两步-
1.要对源代码进行的更改:
a:需要在 sdl/examples/BIST/BIST_core_defs.c 文件中重新调整引导阶段和 PBIST 实例。
b.必须将 numPostPbistToCheck 参数添加到 SDL/examples/BIST/bist_core_defs.h 文件中的 PBIST_TestHandleArray 中。
c.很少要进行更改来更新 sdl/examples/BIST/BIST.c、sdl/examples/BIST/pbist_utils.c、sdl/examples/BIST/pbist_utils.h 和 sdl/examples/BIST/j721e/pbist_defs.c 中的 PBIST API soc
请使用以下命令执行这些更改的以下补丁(包含在 SDK 9.0中)-
CD $RTOS_SDK/SDL/
Git 初始化
Git 添加。
git commit -m"init commit"
Git am $path_to_patch_shared_below
e2e.ti.com/.../0001_2D00_Fixed_2D00_SDL_2D00_BIST_2D00_Example_2D00_Application_2D00_failure.txt
2.必须加载多核应用程序映像:
从 SDK 8.6.0开始、MCU R5F 在非安全模式下引导、因此、BIST 示例需要加载一个多核应用映像。 使用多核应用映像(R5F 和 C7X 二进制映像)的原因是要确保 MCU R5F 能够进行 CLEC 配置。 此图像生成在生成二进制文件时所在的文件夹中。 多核应用映像二进制文件命名为 BIST_EXAMP_r5f_BareMetal_multiore_image.appimage。
此致、
约西塔