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器件型号：SK-AM62P-LP 工具与软件：
尊敬的 专家：
我们已经完成了 MCU+SDK 为 DCC 提供的代码。
我们在 DCC_309a Test_Use 中做了一些更改
/*连续-未生成错误*/
｛
"HFOSC0"、
"SYSCLK0"、
SDL_DCC_INST_DCC1 、
// SDL_DCC_INST_MCU_DCC0、
SDL_DCC_CLK0_SRC_CLOCK0_0、
25000、/* HFOSC0的25 MHz */
SDL_DCC_CLK1_SRC_CLOCK1、
200000、/* 200 MHz for SYSCLK0 */
SDL_DCC_MODE_CONTINUOUS、
0x0、
APP_DCC_TEST_CLOCK_SRC_1_Higher、
0x0
}、
我将实例更改为 SDL_DCC_INST_DCC1 来自 SDL_DCC_INST_MCU_DCC0、之后、它似乎变得失败、时钟不匹配或漂移。
------------ before chages ------- MCU_R5FSS0_0] DCC Example Test Application DCC_Test_init: Init WKUP ESM complete USECASE: 0 Source clock: HFOSC0 Test clock: SYSCLK0 SDL DCC EXAMPLE TEST: Seed values calculation done. SDL DCC EXAMPLE TEST: Enabling DCC and running for some time UC-0 count:0 Completed Successfully All tests have passed. --------------After chages --------------- [MCU_R5FSS0_0] DCC Example Test Application DCC_Test_init: Init WKUP ESM complete USECASE: 0 Source clock: HFOSC0 Test clock: SYSCLK0 SDL DCC EXAMPLE TEST: Seed values calculation done. SDL DCC EXAMPLE TEST: Enabling DCC and running for some time SDL DCC EXAMPLE TEST: DCC Generated Error interrupt SDL DCC EXAMPLE TEST: Indicating clock drift/change SDL DCC EXAMPLE TEST: Error Event was not expected UC-0 Failed Few/all tests Failed
我想知道更多关于这个源时钟,参考时钟和这些实例. 您能告诉我们应该遵循什么吗？
此致、
去巴希
