[FAQ] [参考译文] [常见问题解答] TDA4VL-Q1：测试 ECC 错误注入的建议

您好！

以下是有关何时必须在 ECC 聚合器上执行错误注入的一般建议：

• 应尽可能在"‘s"时运行 ECC 错误注入和错误响应监控。
• ‘s一种推荐的方法是在"关断"时运行 ECC 错误注入。

当在"‘时间"内运行 ECC 错误注入时、系统集成商必须注意以下几点：

对于互连端点：

• ECC SEC‘注入在空闲周期内运行、因此可以在所有类型的校验器的"运行时"期间运行。
  • 奇偶校验和冗余位错误注入是无损的、可以在运行时完成。
• ECC DED‘注入在空闲周期中运行、因此可以在"运行时"期间运行。
  • 只对奇偶校验器/冗余校验器类型执行 single-bit 错误注入。 这是因为它们可以保护奇数次注射。 奇偶校验上的2位注入不会导致故障。

对于 RAM 存储器：

• RAM 存储器上 SEC 的 ECC 自检、可在运行时运行：
  • SEC 的 ECC 自检注入一个可以内联纠正的 single-bit 错误。
• RAM 存储器的‘runtime"期间的 ECC DED 错误注入应仅针对具有直接读取访问的存储器进行
  • 直接读取访问存储器的两个示例是 MSMC SRAM 和 MCU SRAM
  • ‘在"运行时"期间运行、所有其他嵌入式 SRAM 上的双位错误注入可能会导致下游 IP 读取不良数据
• 仅‘‘s存储器上的 ECC 错误注入应在"启动"时运行、不建议在"运行时"期间运行。 了解有关这些存储器的更多信息

此致、

Josiitaa.