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https://e2e.ti.com/support/processors-group/processors/f/processors-forum/1453389/faq-tda4vh-q1-ecc-testing-procedure-for-inaccessible-ram-ids
工具与软件：
SDL ECC 测试是否涵盖无法访问的端点的错误注入测试？ 如果没有、那么这些端点的测试程序是怎样的？
您好！
在 SDL 中存在的 ecc_func_app 中、为了测试不可 访问的 RAM ID、SDL 会注入错误、但由于没有直接的方法访问存储器、通过操作 ECC 的中断状态寄存器强制执行错误中断。 有关与特定 ECC 端点相对应的 RAM ID 可访问性的信息、请参见 sdl/include/ecc/$SOC/中的 sdlr_soc_ecc_aggr.h 文件 soc。
这在 SDL_ECC_aggrSetEccRamIntrPending () API 中完成。
但是、在实际情况下、您不必强制包装器类型端点上出现错误、应用程序必须执行读取访问来触发 TRM 中所述的中断。
以下 xls 包含执行此存储器存取的测试过程。 请注意、这是初始版本、可能会有更改。 目前、我们没有用于执行这种存储器访问的测试代码或示例。 这是系统集成商的责任。
e2e.ti.com/.../j784s4_5F00_ecc_5F00_metadata_5F00_inaccessible_5F00_rams_5F00_v3.xlsx
此致、
Josiitaa.
