工具与软件:
我们要测试 OTP 证书的 bin 文件是否有效。 由于此证书 bin 文件由 HSM 生成、因此我们可能需要多次测试尝试。 我们以前使用了不可逆的方法将 OTP 证书刻录到 OTP 中、但这种方法是不可逆的。 如果证书错误、则只能丢弃测试硬件。 那么、还有其他任何测试方法可以尝试多次吗?
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工具与软件:
我们要测试 OTP 证书的 bin 文件是否有效。 由于此证书 bin 文件由 HSM 生成、因此我们可能需要多次测试尝试。 我们以前使用了不可逆的方法将 OTP 证书刻录到 OTP 中、但这种方法是不可逆的。 如果证书错误、则只能丢弃测试硬件。 那么、还有其他任何测试方法可以尝试多次吗?
但是似乎证书确实是在写的、是否有任何测试方法、而不是对硬件进行欺骗?
我不确定您如何确认这一点。
我已经支持许多有关 Keywriter 故障的查询,源自以下错误:
在所有这些情况下、器件保持不变、通过纠正错误可以克服故障。
感谢您的更新、。
实际上、我的重点是是否有测试方法可以防止硬件砖头化。
可以启动我自己生成的密钥和证书。 我们正在调试由 HSM 生成的密钥和证书。 因为为了与 HSM 兼容、脚本中修改了一些内容、导致在生成最终证书时无法提供备份密钥信息。 因此、硬件无法工作。 我的同事正在调试此脚本。 但我们不想再浪费硬件了、所以我想问一下、是否有其他测试方法可以防止硬件变砖。 NXP 具有类似的测试方法、可防止硬件无法工作。
启动 Keywriting
已启用 VPP
找到的密钥证书:0x43c15380
Keywriter 调试响应:0x100000
发生错误...
写入证书时报告了错误。
------- 使用此版本的 MCU+SDK、我自己生成的证书可以正常编写。
我们使用 openssl 3.x.x