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[参考译文] AMC7908EVM:AMC7908EVM 激发并爆炸

Guru**** 2905430 points

Other Parts Discussed in Thread: AMC7908EVM, AMC7908

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/rf-microwave-group/rf-microwave/f/rf-microwave-forum/1639464/amc7908evm-amc7908evm-sparked-and-blew-up

器件型号: AMC7908EVM
主题中讨论的其他器件: AMC7908

您好:

我今天打破了 AMC7908EVM、我试图了解发生了什么、因此不会再次发生。 以下是事实:

-我正在与一个 AMC7908EVM 工作,并进行涉及 DRVEN0 引脚的实验。
 
- VIO 通过 USB 供电,但 VCCA 未通电 (它连接到一个电源,其输出被意外禁用)。
 
- J23 未跳接、因此 DRVEN0 连接至板载‑Ω 板 FTDI GPIO、而是从外部驱动(无意中,我实际上尝试使用 FTDI 驱动 DRVEN0)。
 
- 函数发生器直接连接到 DRVEN0 引脚,提供 2 V 方波。  在这种情况下、我在不存在任何 VCCA 电源的情况下对 DRVEN0 进行脉冲操作。
 
-应用这种刺激后不久, AMC7908 器件上的 EVM 触发 并变得无响应。 所有寄存器都返回 0xFF、没有输出。 FTDI 芯片仍然正常。
 
您能帮助我了解可能发生的情况吗? 根据我所能知道的、我无意中造成了电源错误、即在供电之前开始对数字引脚进行脉冲处理。
 
谢谢!
 
Nathan
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    您好 Nathan、

    对您的体验深表歉意、我之前没有见过此类 EVM 出现火花! 您能否确认 EVM 的一些其他配置:
    - VIO 是通过 USB,那么 VDD 呢?  
    -您是如何配置 VSS 的? 对 J2、J9、J29 等的状态很好奇

    “浮动“电源可能会导致一些问题。 我可以相当肯定地确定偏置到 VCC 和 VSS 引脚的 DRVEN 引脚切换开关。 一个电源悬空可能会导致开关出现故障。 我将与设计人员确认这一点。

    同时、请发送电子邮件至 e-bowrie@ti.com 、我们可以免费为您提供新 EVM。  

    谢谢、
    Erin

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    尊敬的 Erin:  

    感谢您的答复。 以下是您问题的答案:

    -... VDD 呢?

    VDD 配置为通过 J13 上的跳线由 USB 5V 供电。 (我将跳线保留为默认配置*大部分*)

    - VSS 配置?

    VSSA 通过 J2 和 J9 跳接至地。 在默认配置下、J29 没有任何跳线。  

    我更改的唯一跳线是 J17、J18(更改为 I2C 模式)和 J19(更改地址)。

    请告诉我,这是否给你任何线索或你的设计师说什么! 我希望在本次讨论中得到的一点是我们应该牢记的任何方面(例如电源时序?) 需要考虑的两个主要因素。

    Nathan

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    您好 Nathan、

    我在工作台上快速设置了这个设置、并且不会看到器件烧毁。 我与设计师讨论过、我们需要了解以下几点:

    1) 如果您给电路板加电,是否有任何电源消耗额外的电流? 一般而言、我们预计 VCC 线路上会出现故障、但也会使用外部电源检查 VIO、VSS 和 VDD、以防万一。  

    2) 对电路板进行目视检查时,是否有任何熔断的痕迹或盖板?  

    3) 之前您是否与设备通信? 因此、这些 DRVEN 引脚在技术上在启动时未连接、您需要将其配置为特定输出。 在我的工作台上、我假设启动后未进行通信、因此 DRVEN 信号似乎不会造成任何损坏。  
    如果 VCC 未通电(且 VSS = 0V)、则器件应处于 POR 模式并且无法通信。 我想知道你是否能够在火花之前与设备通信。  

    谢谢、
    Erin

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    Erin、  

    1) 不确定如何测试所有这些,因为我认为跳线自动控制这些端口上的电压输出? 在 Vcca 上、0A、施加 5V。 在 VSS 上、施加 0V 时为 0.3A(以某种方式灌入电源)。 VIO 和 VDD 上有电压。

    2) 没有,但是 AMC 在封装中有可见的孔。 此外、插入 USB 电缆后、AMC 会变得非常热、即使没有其他连接也是如此。 当 USB 电缆断开时、它会冷却

    3) 我有一个通信环路正在运行、它告诉 AMC 在软件中打开和关闭栅极电压(现在我意识到它不是处于 DRVEN 模式,而是由软件控制)。 我相信它在崩溃之前运行了一段时间。

    最后、您发送的更换套件也烧坏了... 由于担心 DRVEN 导致问题、我断开了完全脉冲 DRVEN 的 FGEN 连接、然后再次运行测试。 在测试期间、电源再次关闭(我的程序可能正在执行此操作??? 不是你的问题,但为什么它关闭了!!!! ugh) 并且只是在软件门“开 — 关“它打破了同样的方式后 5 个脉冲,在相同的地方有小孔。

    Nathan

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    您好 Nathan、

    嗯,这是一个不幸的事情转折...  

    USB 导致电路板变热是一条有趣的线索。 默认情况下、USB 设置为为为 VIO 和 VDD 供电、因此如果在插入电路板后感觉很热、这意味着 VDD 可能会被总线并消耗额外的电流。 移除 J13 VDD 跳线、并从外部向 J5 香蕉插孔供电。 如果它消耗了大量电流、这可能是我们的罪魁祸首。 如果没有、也可以尝试 VIO(我不希望 VIO 会像这样打破)。 VSS 似乎也消耗了大电流、300mA 非常高。

    芯片上的黑色标记似乎靠近 VCCB/A 输入。 可能是照明的一个技巧、但 VCCB 焊盘看起来与其他焊盘不同。 在这里、这可能是 VCC 关闭导致我们问题的更多线索。

    您能给我一份电路板爆炸前您正在使用的寄存器著作的详细列表吗? 我想尝试重新创建实验。

    谢谢、
    Erin

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    以下是我给出的一系列命令。 这些都是独立的、因此这并不代表我拥有的程序、而是代表所有命令的发出顺序。

    我会注意到这 确实有效(当然,当电源打开时)。 其目的是:

    1.初始化

    2.设置栅极电压

    3.循环 a,b,c 5 次

    3.a. 打开浇口-*PAUSH*

    3.b. 进行电流测量

    3.c. 关闭浇口-*PAUSH*

    4.进行计算和暂停  

    5.根据需要重复 2、3、4

    在步骤 3 的某个地方,它的触发,它从来没有达到步骤 4。

    初始化:

    1.chip_id = READ_REGISTER_PAGED (_GLOBAL_PAGE、_CHIP_ID_REGISTER)

    2.chip_ver = READ_REGISTER_PAGED (_GLOBAL_PAGE、_CHIP_VER_REGISTER)

    3. update_paged_register (

          DAC_CONFIG_PAGE、_DAC_CFG_REGISTER

          lambda v:_set_bit (v、_daca_biary_bit、False)

        )

    4. update_paged_register (

          GLOBAL_PAGE、_PWR_EN_REGISTER、

          Lambda v:_SET_BIT (_SET_BIT (v、_PWR_EN_DACA0_BIT、True)、_PWR_EN_DACA1_BIT、True)

        )

    5. update_paged_register(

          GLOBAL_PAGE、_DRVEN_SW_EN_REGISTER

          Lambda v:_SET_BIT (_SET_BIT (v、_DRVEN_SW_EN_DACA0_BIT、True)、_DRVEN_SW_EN_DACA1_BIT、True)

        )

    6. update_paged_register (

          DAC_CONFIG_PAGE、_DAC_CFG_REGISTER

          Lambda v:_set_bit (v、_clamp_sel_OUTA0、True)

        )

    7. write_register_paged (_dac_buffer_page、_daca0_buffer_register 、code )  --用了 1.5V 的代码

    8. write_register_paged (_dac_buffer_page, _DACA1_buffer_register, code )  --为 0V 使用的代码

    9、self._update_paged_register(

          GLOBAL_PAGE、_DRVEN_REGISTER

          Lambda v:_SET_BIT (_SET_BIT(v、_DRVEN_DACA0_BIT,启用)、_DRVEN_DACA1_BIT、True)

        )

    10. update_paged_register(

          GLOBAL_PAGE、_DRVEN_SW_EN_REGISTER

          Lambda v:_set_bit (v、_DRVEN_SW_EN_DACA0_BIT、True)

        )

    11. update_paged_register(

          DAC_CONFIG_PAGE、_DRVEN0_EN_REGISTER、

          Lambda v:_set_bit (v、_DRVEN0_EN_DACA0_BIT、False)

        )

    12.update_paged_register (

          DAC_CONFIG_PAGE、_DRVEN1_EN_REGISTER、

          Lambda v:_set_bit (v、_DRVEN1_EN_DACA0_BIT、False)

        )

    13.update_paged_register (

          DAC_CONFIG_PAGE、_FLEXIO_EN_REGISTER

          Lambda v:_set_bit (v、_FLEXIO_EN_DACA0_BIT、False)

        )

    测试环路:

    14. write_register_paged (_DAC_BUFFER_PAGE 、_DACA1_BUFFER_REGISTER、 CODE)  --用于 1.2V 的代码

    循环 5 个{

    15.UPDATE_PAGED_REGISTER(

          GLOBAL_PAGE、_DRVEN_REGISTER

          Lambda v:_SET_BIT (_SET_BIT (v、_DRVEN_DACA0_BIT、True)、_DRVEN_DACA1_BIT、True)

        )

    ——暂停——

    16. write_register_paged (_GLOBAL_PAGE、_TRIGGER_REGISTER、(1 <<_ADC_TRIG_BIT))

    17. READ_REGISTER_PAGED (_GLOBAL_PAGE _GEN_STATUS_REGISTER)--在转换完成前的循环、最长 5ms

    18. READ_REGISTER_PAGED (_GLOBAL_PAGE、_ADC_SENSE0_REGISTER)

    19. report_paged_register(

           GLOBAL_PAGE、 _DRVEN_REGISTER

           Lambda v: _SET_BIT (_SET_BIT (v、 _DRVEN_DACA0_BIT、 False)、 _DRVEN_DACA1_BIT、 True)

        )

    ——暂停——

    }

    火花!

    以上解释:

    初始化
    1.读取:页 0x00、寄存器 0x40
    2.读取:页 0x00、寄存器 0x41
    3、写入:页 0x03、寄存器 0x42 --> 0b00000000
    4.写入:页 0x00、寄存器 0x08 --> 0b00000011
    5、写入:页 0x00、寄存器 0x12 --> 0b00000011
    6.写入:页 0x03、寄存器 0x42 --> 0b00000001
    7、写入:页 0x04、寄存器 0x40 -> 0b0000010011001101 (0x04cd、1229 个计数、1.5V)
    8、写入:页 0x04、寄存器 0x41 --> 0b0000000000000000 (0x000、0 个计数、0V)
    9、写入:页 0x00、寄存器 0x13 --> 0b00000011
    10、写入:页 0x00、寄存器 0x12 --> 0b00000001
    11、写入:页 0x03、寄存器 0x50 --> 0b00000000
    12、写入:页 0x03、寄存器 0x51 --> 0b00000000
    13、写入:页 0x03、寄存器 0x52 --> 0b00000001
    测试环路
    14、写入:页 0x04、寄存器 0x41 --> 0b0000001111010111 (0x03d7983 个计数、1.2V)
    循环 5 个{
    15、写入:页 0x00、寄存器 0x13 --> 0b00000011
    ——暂停——
    16、写入:页 0x00、寄存器 0x12 --> 0b00000001
    17.读取:页 0x00、寄存器 0x03 --继续在循环中读取此值、直到转换完成最长 5ms
    18.阅读:页 0x00、寄存器 0x18
    19.写入:页 0x00、寄存器 0x10 --> 0b00000010
    ——暂停——
    }
    火花!
    -----
    感谢您的帮助、  
    Nathan
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    您好 Nathan、

    您的设置没有发现任何特别的问题;请注意、默认情况下、ADC 以自动转换模式启动、因此在触发 ADC 后、您不会看到 gen 状态寄存器中的“ADC_Busy“标志变为低电平。  

    运行该测试时、您的输出引脚是否悬空或连接到 PA? 当我使用您的设置时、我仍然没有看到火花、但我的引脚悬空。 如果您使用 PA、则 PA 栅极和器件之间可能存在一些影响。  

    谢谢、
    Erin

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    在这两种情况下、我都将输出接线到振荡器中。

    Nathan

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    您好 Nathan、

    是否使用函数发生器来生成 DRVEN 脉冲? 是否将其设置为高阻抗输出? 如果设置为 50Ω 输出端接、则可能是对 DRVEN 引脚进行过度偏置。  此外、您的 FGEN 是否有失调电压?  您能否在示波器上确认您的 FGEN 仅为 0V 至 3.3V(或者您的 VIO 电压)? 我担心的是、您会将器件偏置到±6.6V 等电压并损坏 ESD 单元。  我们如何再采样几个元件、您可以替换安装在 PCB 上的器件?  

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    您好、Paul:

    我将 FGEN 设置为 50Z 输出阻抗。 我还怀疑这可能与问题有关。 在收到替换 EVM 时、由于我的怀疑、我将 FGEN 与 EVM 完全断开连接。 然而,尽管没有 FGEN 连接,芯片仍然被毁。 这让我怀疑 FGEN 是问题的根源。

    当我收到第一个 EVM 并刚开始时、我实际上成功地使用了 FGEN 来脉冲 DRVEN、这也使我相信 FGEN 本身不是问题、并且必须进行一些更改才能成功使用 FGEN ->芯片销毁。

    我还没有在一个星期左右检查,但我记得设置(和检查)的 FGEN 如下:

    -方波

    - 5Vpp

    - 2.5V 偏移

    -电压摆幅确认为 0V - 5V

    我使用了 5V、因为我使用 USB 5V 供电。 在默认配置中、EVM 是否会下调 USB 电压以设置 VIO? 不管怎样,我仍然不怀疑 FGEN 是核心问题。

    我们将尝试更换部件、但我们的技术人员告诉我、这可能很困难。 是否有关于更换这些芯片的提示?

    Nathan