我拥有采用 AFE7900和 Xilinx Xcku050 FPGA 的定制电路板设计。
我想通过 发送斜坡信号来测试寄存器 B7h (DAC JESD - TX_JESD_TEST_S IG_GEN_MODE)和108h、109h (ADC JESD - RX1_JESD_TEST_SIG_GEN_MODE、RX2_JESD_TEST_SIG_GEN_MODE)的 JESD 通道。 (我将同时发送 AFE 的 AB 和 CD 页面上的这些命令)。
1) 1)当我向 B7h 寄存器写入值0x2时、我可以看到来自 FPGA 的斜坡信号、但当我禁用 B7h 寄存器并向 AFE 应用外部信号时、我只能看到 FPGA 中的噪声。
此测试是否会完全验证我在 TX 端的 JESD 连接,以及此问题的原因是什么?
2) 2)当我将值0x2写入108h 和109h 寄存器时、我可以使用频谱分析仪验证 Ramp 信号是否来自 AFE、 但是、我的电路板上的所有 AFE 都没有信号、我看到其中一些 AFE 中的信号损坏了吗? (此外、我已经使用我的 EVM 检查了此测试、我知道具有相同配置的 AFE 的输出是什么)
此测试是否会完全验证我的 RX 端 JESD 连接,以及 此问题的原因是什么 ?
我需要有关此问题的帮助吗?
提前感谢。