[参考译文] LDC1101：卡在复位模式下-状态寄存器显示0x00

Joseph、

感谢您的帖子、很遗憾听到您遇到了问题。

我将研究您的问题、并在下周星期二之前更新此主题。

此致、
John

您好、John：

感谢您的答复。 我有机会进一步研究这个问题、我注意到除了以下情况外、所有寄存器都返回0：

• 0x01：2.
• 0x02: 144.
• 0x08：88
• 0x09：2.
• 0x0B：1.
• 0x20：124

但是、RP 测量仍停留在31744。 通常、所有寄存器都不会更改其值。

我想我分享一下这个更新、以防它有助于缩小问题范围。 我将继续调查并随时向您发布信息。

期待您的反馈。

我想我已经确定一个与 LHR_STATUS 寄存器相关的潜在问题。 根据我观察到的情况、它似乎卡在0x01、这可能导致器件保持在复位模式、而不会转换到工作模式。

到目前为止、我们已经看到：

• 状态寄存器始终读取0x00、指示复位模式。

• FUNC_MODE 寄存器已设置为0x02、但器件未退出复位。

• 其他寄存器(例如 RP 测量值和 LHR 相关寄存器)保持不变、电感数据卡在0。

可能是 LHR 配置中的某种东西阻止了正确的初始化。 我想添加这些信息是为了帮助缩小根本原因的范围。

期待收到任何进一步的建议!

Joseph、

您是否可以在使用我们的 GUI 时比较在相同器件设置等下看到的行为？
如果可能、它可能会提供一些附加参考点以供比较。  

此外、您是否可以回答有关此主题的所有问题、因为这些问题看起来相互关联？
管理 多个相关线程会有点困难。
如果没问题、我将关闭另一个线程、我们可以继续处理这一个线程。

此致、
John

您好、John：

遗憾的是、我没有 EVM 板来使用 GUI—我正在使用 LDC1101 Click Board (MIKROE-3240)。 我设法使 Rp+L 模式正常工作、但只能读取有效的 RP_DATA。 L_data 似乎停留在常量值、而在 LHR 模式下、我只从 LHR_data 中得到零。

我怀疑我可能缺少一些寄存器配置。 您能否分享正确访问 LHR_DATA 所需的寄存器设置？

Joseph、

从 LDC1101 EVM 导出寄存器设置后、该线程会作为.txt 文件附加到该线程。
它只提供寄存器名称和设置、因此我包含了 GUI 寄存器窗格的两个捕捉画面 、可以提供更多信息。

希望这能有所帮助。  

此致、
John

e2e.ti.com/.../LDC1101_5F00_EVM_5F00_Registers.txt

您好、John：

感谢您发送寄存器设置和 GUI 屏幕截图、非常感谢。

我已经熟悉 LDC1101的不同寄存器、但我仍然不确定需要哪些特定配置才能正确激活 LHR 模式。 根据屏幕截图中显示的值、这些设置是否旨在启用 LHR 模式？ 我已经尝试复制它们、但 L_DATA 和 LHR_DATA 寄存器中的值仍为零。 我注意到的一件事是,在写入这些值后,我的STATUS寄存器显示0x7C. 您知道这可能表示什么吗？

为了让您更好地了解我如何设置 LHR 模式、我附上了我的代码屏幕截图、其中显示了我正在编写的特定寄存器值。 此外、在 Rp+L 模式下工作时、我注意到我获得了有效的 RP 读数、但 L_DATA 似乎保持不变。 这是预期的行为吗？ 我觉得这有点奇怪、很感激您的见解。

再次感谢。

Joseph、

感谢您的反馈。 我将尝试使用我们的 EVM 和 GUI 重现您看到的内容、并将于星期四由 COB 更新此主题。

此致、
John

您好、John：

感谢您的更新。 我期待着您的调查结果。

最令人困惑的是、我在 Rp+L 模式下收到 Rp 数据、而不是 L 数据。 在注意到尽管将材料放置在传感器附近、但 L 值是恒定的后、我在传感器打开(我知道这并不理想)的情况下尝试了快速连续性测试、这导致我干扰了 MIKROE-3240上的 PWM 引脚(CLKIN)。 我注意到、移动引脚会导致 L 值短暂变化、但它们仍然保持不变、看起来没有意义。 这让我怀疑这个问题可能与 Raspberry Pi 的时钟配置或与 CLKIN 输入的兼容性有关。 我正在使用器件的引脚12上的 Pigpio 库来生成占空比为50%的16 MHz PWM 信号。

否则、可能缺少特定的寄存器配置。 另外、如果排除了这一问题、因为我已经确认 SPI 通信不是问题、那么 Click board 或 LDC1101芯片本身可能会出现故障。

感谢您的帮助！

您好、John：

如果我们无法有效利用可靠的电感数据、我们计划仅使用 RP 数据继续下去。 仅测量 RP 是否足以对铜、铝和钢等金属进行分类？

我们的目标是估算样品的电阻率或电导率。 该计划是收集 RP 数据并应用回归来将其与电阻率相关联。 您认为这种方法是否可行？

此外、由于金属目标的尺寸和形状会有所不同、因此我们考虑使用 RP 值对测量面积进行标准化、从而提高模型精度。 您认为这样会有帮助吗？ 任何改进我们战略的建议都是非常欢迎的。

再次感谢您的支持！