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[参考译文] AWR6843ISK:如何在代码稳定性 Studio 中执行数据路径单元独立测试代码

Guru**** 2455560 points
Other Parts Discussed in Thread: AWR6843ISK, AWR6843

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/sensors-group/sensors/f/sensors-forum/1503852/awr6843isk-how-to-execute-data-path-unit-standalone-test-code-in-code-composure-studio

器件型号:AWR6843ISK
主题中讨论的其他器件: AWR6843

工具/软件:

您好、

我正在使用 AWR6843ISK + mmwaveBooster、我能够在代码沉着工作室上运行带有断点的开箱即用演示项目并能够进行调试(因为 out_of_box_6843_isk_dss.projectspec 和  out_of_box_6843_isk_mss.projectspec 都 提供了雷达工具箱"C:\ti\radar_toolbox_1_30_01_03\source\ti\examples\Radar\radar\xwrinky"的一部分 Out_Of_Box_Demo) src。

现在我要运行 位于(C:\ti\mmwave_sdk_03_06_02_00-LTS\packages\ti\datapath\DPU\rangeproc\test)的单元测试。其独立测试允许非实时执行数据路径处理链。  

我找不到 要在代码稳定性 studio 中打开的任何.projectspec 文件。我只看到 .xe674和 .xer4f 文件(随附文件夹文件屏幕截图以供参考)

我的问题:

 1.can 您告诉我、如何  在代码运行中打开此 DPU 单元测试?

 2、如果您有说明步骤的文档,请分享吗?

此致、

Mani

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    嗨、Mani、

    感谢您与我们联系、了解如何构建此测试代码。 这些测试代码没有 CCS projectspec、因此必须使用 gmake 从源代码构建。 毫米波 SDK 用户指南( /docs/mmwave_sdk_user_guide.pdf)、特别是第3.5节和第4.5.1节、这些部分介绍了如何构建这些测试工程。 简化的步骤为:

    1. 在 packages/scripts/windows 下找到 setenv.bat 文件、然后将 MMWAVE_SDK_DEVICE 更改为您将要构建的器件、即 awr68xx
    2. 按照上一步中的说明进行修改后运行 setenv.bat
    3. 导航至 packages/ti/datapath/DPU/rangeproc 并运行:gmake -s 测试

    这时应该会重新构建测试文件、但如果您想了解构建过程、则可以查看 packages/ti/datapath/DPU/rangeproc 下的 makefile。 如果您有任何其他问题、请告诉我!

    谢谢、

    Kristien

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Kristien:

    感谢您的答复。

    我们可以执行您建议的以下步骤。

    我有以下 与运行用于测试 DPU 的单元测试代码相关的其他问题。

    我的问题:

    如果您看到 testdata 文件夹包含两个捕获的 bin 文件(一个用于在 DSP 上实现的 rangedpu、另一个用于 hwa 上实现的 rangedpu)。

    我能否知道使用哪些 TI 工具或接口(如 mmwavr studio +dca1000或任何其他工具和卡)会捕获这些 bin 文件?...如果可以共享与 it..it 相关的文档或详细信息、那么它们对理解很有帮助  

    2.这些 BIN 文件是否仅包含原始 ADC 样本数据、或是否包含诸如线性调频脉冲数、样本数等附加信息以及原始 ADC 样本数据? 如果有任何与此 bin 文件的数据格式/结构相关的文档可用,请分享。

    此致、

    Mani

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    嗨、Mani、

    我必须查看是否有有关这些 BIN 文件的任何其他文档、但这些文档包含运行测试代码所需的所有信息、包括要执行的测试数量、ADC 数据信息(Tx 天线数、距离区间数和每帧的线性调频脉冲数)以及原始 ADC 样本数据本身。

    此致、

    Kristien

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    你好、kristien、  

    感谢您的答复。

    根据你之前的答复、我又收到了两个问题。

    ADC 缓冲器是只读的、还是可以同时进行读取和写入?

    2.如果 可以将数据读写到 ADC 缓冲区中 ,在这种情况下,如果我要将从.bin 文件读取的原始数据写入 ADC 缓冲区(而不是从 数字前端写入 ADC 缓冲区的数据),并将 ADC 缓冲区数据传递 给 HWA 进行 FFT 处理,该怎么做?

    此致、  

    Mani

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    嗨、Mani、

    请在下面查看我对您的问题的回答:

    1. ADC 缓冲区是只读的还是可以同时进行读取和写入?

    在此测试工程的上下文中、假设您引用 adcDataInBuf 和或 dataInBuffer、缓冲区将与 .bin 原始 ADC 数据一起写入一次 、然后在处理测试期间进行读取。

    2.如果 可以 将数据读写到 ADC 缓冲区中,在这种情况下,如果我想将原始数据从.bin 文件读取到 ADC 缓冲区(而不是从 数字前端写入 ADC 缓冲区的数据) ,并将 ADC 缓冲区数据传递给 HWA 进行 FFT 处理,如何处理?

    我们没有能够从 AWR6843的.bin 文件中读取数据的最终应用示例、但您可以引用 rangeProcDpu Test_Task 来了解如何解析和读取数据。

    此致、

    Kristien