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器件型号：AWR6843 工具/软件：
我已 使用 AWR6843ISK+DCA 1000 卡捕获原始 ADC 数据、并存储在.bin 文件中。 考虑一下,我有同样的范围 FFT 输出。 我想验证此数据的静态干扰消除输出。 因此、我将使用 C：\ti\mmwave_sdk_03_06_02_00-LTS\packages\ti\datapath\DPC\DPU\staticpacterproc\test\xwr68xx\下提供的测试代码。
案例 1：当我尝试向代码提供我的测试配置（（3 个 Tx 天线、4 个 Rx 天线、54 个多普勒线性调频脉冲和 64 个距离区间）时、我收到了以下与 L2 内存相关的构建错误。
案例 2：当我将测试配置修改为 （（3 个 Tx 天线、4 个 Rx 天线、54 个多普勒线性调频脉冲和 32 个距离频段） 以适应存储器并执行代码时。 我在 CCS 控制台中遇到以下错误。
请建议如何使用上面案例 1 中的配置继续使用我的测试数据。
