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[参考译文] AWR1843AOPEVM:尝试在 CCS 中通过 XDS110 刷写时的问题

Guru**** 2439600 points
Other Parts Discussed in Thread: AWR1843AOPEVM, MMWAVEICBOOST, AWR1843

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/sensors-group/sensors/f/sensors-forum/1538943/awr1843aopevm-issue-when-attempting-to-flash-via-xds110-in-ccs

器件型号:AWR1843AOPEVM
主题中讨论的其他器件: MMWAVEICBOOSTAWR1843

工具/软件:

你好。 我正在使用带有 XDS110 调试器的 AWR1843AOPEVM 模块。 XDS110 调试器已通过所有测试、其输出如下。 我已通过 USB 成功将 xwr18xx_ccsdebug.bin 刷写到 AWR1843。 然后、我将 SOP 引脚切换为 MMWAVEICBOOST 刷写模式、因为我被告知使用外部 XDS110 应该与这完全相同。 但是、在 Code Compose Studio 中、刷写(更不用说通过 XDS110 进行调试)失败。 此外、我没有将 XDS110 的 NRST 连接到任何地方、只有 GND、VTREF 和 TDI、TDO TCK 和 TMS。 在尝试通过 XDS110 进行闪存时、通过与计算机的 USB 连接为电路板供电。

以下是 XDS110 测试的输出:

[开始:Texas Instruments XDS110 USB 调试 Probe_0]

执行以下命令:

%CCS_BASE%/common/uscif/dbgjtag -f %boarddatafile%-rv -o -S integrity

【结果】


----- 【打印线路板配置路径名】------------------------------------

C:\Users\nsunkad\AppData\Local\TEXASI~1\
CCS\ccs1281\0\BRDDATAC\testBoard.dat

----- 【打印重置命令软件日志文件】------------------------------------

该实用程序选择了 100/110/510 类产品。
此实用程序将加载适配器'jioxds110.dll'。
库构建日期为“STEP 26 2024“。
库构建时间为“10:09:41“。
库软件包版本为“20.0.0.3178"。“。
库组件版本为“35.35.0.0 “。
控制器不使用可编程 FPGA。
控制器的版本号为“5"(“(0x00000005)。
控制器的插入长度为“0"(“(0x00000000)。
此实用程序将尝试重置控制器。
此实用程序已成功重置控制器。

----- 【打印重置命令硬件日志文件】------------------------------------

通过切换 JTAG TRST 信号、将使扫描路径复位。
控制器是具有 USB 接口的 XDS110。
从控制器到目标的链路是直接的(不使用电缆)。
该软件针对 XDS110 功能进行了配置。
控制器无法监测 EMU[0]引脚上的值。
控制器无法监测 EMU[1]引脚上的值。
控制器无法控制输出引脚上的时序。
控制器无法控制输入引脚上的时序。
扫描路径链路延迟已恰好设置为“0"(“(0x0000)。

----- [在 JTAG IR 上执行完整性扫描测试]------------------------

此测试将使用 64 个 32 位字的块。
该测试仅应用一次。

使用 0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试:1、跳过:0、失败:0
使用 0x00000000 执行测试。
扫描测试:2、跳过:0、失败:0
使用 0xFE03E0E2 进行测试。
扫描测试:3、跳过:0、失败:0
使用 0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试:4、跳过:0、失败:0
使用 0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试:5、跳过:0、失败:0
使用 0xAACC3355 进行测试。
扫描测试:6、跳过:0、失败:0
所有值均已正确扫描。

JTAG IR 完整性扫描测试已成功。

----- [对 JTAG DR 执行完整性扫描测试]--------------------

此测试将使用 64 个 32 位字的块。
该测试仅应用一次。

使用 0xFFFFFFFF 进行测试。
扫描测试:1、跳过:0、失败:0
使用 0x00000000 执行测试。
扫描测试:2、跳过:0、失败:0
使用 0xFE03E0E2 进行测试。
扫描测试:3、跳过:0、失败:0
使用 0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试:4、跳过:0、失败:0
使用 0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试:5、跳过:0、失败:0
使用 0xAACC3355 进行测试。
扫描测试:6、跳过:0、失败:0
所有值均已正确扫描。

JTAG DR Integrity scan-test 已成功。

[结束:Texas Instruments XDS110 USB 调试 Probe_0]

这是误差输出:

CS_DAP_0:连接到目标时出错:(错误–1170 @ 0x0)无法访问 DAP。 重置器件、然后重试此操作。 如果错误仍然存在、请确认配置、对电路板进行下电上电、和/或尝试更可靠的 JTAG 设置(例如下 TCLK)。 (仿真包 20.2.0.3536)  

如有任何帮助、我们将不胜感激。 提前感谢您。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好 Jamie:  

    然后、我将 SOP 引脚切换为 MMWAVEICBOOST 刷写模式、

    您能否确认正在使用哪个 SOP 配置? EVM 上连接了哪些跳线?

    此致、
    Shailesh