工具/软件：
尊敬的专家：
关于 AWR2944 中的谐波问题、我们想知道 RX 模拟侧是否发生了饱和。
因此、我们查看了 SDK mmwave_mcuplus_sdk_04_01_02 中的两个文档《MMWAVE-MCUPLUS-SDK 用户指南》和《毫米波雷达接口控制文档》。
但我不确定 TI 是否支持 Rx 饱和监测、因为这两份文档中的陈述是不一致的。
因此、我想与您确认 AWR2944 是否支持 RX 饱和监测。
文档“MMWAVE-MCUPLUS-SDK 用户指南“中提到当前不支持 RX 饱和监控。
但是、在另一份文档“毫米波雷达接口控制文档“中、没有提到它不受支持。
您好、
感谢您的建议。
从 SDK mmwave_studio_03_01_04_04 和 sdk.xml 读取 Monitoring_Data_Format Studio GUI 后、我有一些问题。
根据以下信息、RX 饱和信息可以另存为 report.txt 文件、对吧？ 
在文件 RX.xml（这是报告的输出数据格式）中、我没有找到任何与 Monitoring_Data_Format 饱和度相关的信息。 因此、我很好奇 RX 饱和信息的实际输出端供我们观察。
根据以下信息、对于 CQ 图、它仍在开发中、因此输出目前不支持 RX 饱和信息、这是否正确？
此致、
Jiaquan
尊敬的 JiaQuan：
您可以在 Studio 中尝试以下步骤吗？
使用 CP_ADC_CQ 格式 DataConfig
然后、完成配置文件配置后、在 AnalogTxMON 选项卡中启用 RX IFA Saturation
、
然后根据您的要求配置饱和监测器。 您可以参阅 接口控制文档中的 AWR_MONITOR_RX_Saturation_Detector_CONF_SB 来获取相关说明。
然后您可以继续进行测量。 接收到的 ADC 数据将在每个线性调频脉冲中的 ADC 数据和线性调频脉冲质量 (CQ) 数据末尾附加线性调频脉冲参数 (CP)。 该数据的格式如接口控制文档中所述：
这是唯一读取 RX 饱和监测器报告的方法。
此致、
Shailesh
尊敬的 Shailesh：
按照您的说明、我使用了 mmWave_mcuplus_sdk_04_02_00_01 中 profile_LVDS.cfg 的 TDM 演示。
我使用的器件是 AWR2944EVM、测试环境在办公室中没有任何强反射器 (CR)。
首先、我想与您确认我的 RX 饱和配置是否正确。
RX 饱和配置：
SAT MON 选择= ADC 和 IFA1
层持续时间= 5µs
数字切片= 61（由于 ADC 采样时间= 49.14µs、计算公式为 560（ADC 样本）/11396k（采样率））
RX 通道掩码= 255（即 11111111、启用所有 RX 通道）
我获得了以下结果。 您能告诉我如何理解饱和指标结果吗？
什么结果被视为饱和？
此外、该图是否显示了 ADC 和 IFA1 饱和的综合结果？
如果我要单独查看它们、是否需要单独配置和测量它们？
此致、
Jiaquan
尊敬的 Shailesh：
您是否表示 CQ2 的绘图结果不可靠、因此您希望我自己解析 bin 文件并验证 CQ2 数据、对吧？
但在查看您提到的本文档后、我发现它不提供 GUI 输出的 BIN 文件数据格式的详细说明。 BIN 文件中的数据是一个 1D 数组、这使我无法确定如何正确解析数据 (CP、ADC、CQ)。
到目前为止、我使用此代码来读取 bin 文件：binData = fread (fid、'uint16')
我知道 binData 的大小是4961280x1。
我推导出结构应该是：
(8（CP 数据大小）+(560（ADC 样本）*4 (N_Rx))+336（CQ 数据大小）)*16 (N_LOOP)*3 (N_TX)*20 (N_FRAME)*2 (I 和 Q)。
我的扣除值与 binData 大小匹配。 以上所有值都来自我的配置、但系数 2 (I 和 Q) 除外、我不确定。
我的扣除是否 正确？
我怀疑它是 (I 和 Q) 的原因是因为在 binData 的内容中、偶数索引的值都是零、这使我认为它是 Q 部分。 
但是、我对 (i 和 Q) 仍然有疑问、因为在 GUI 中、我按如下方式配置了它： 
此致、
Jiaquan
尊敬的 JiaQuan：
AWR2944 器件只提供 I DATA、而不提供 I 和 Q、因此应消除该系数。 我认为您不应该得到您看到的额外 0。 否则、您的数据格式理解看起来是正确的。 忽略 0 后、ADC 数据部分是否有意义？
然后、为了确认 CQ 数据是否正确提供、我们应尝试在每个线性调频脉冲的 CQ 数据开头看到“N"个“个切片值。
此致、
Shailesh
