[参考译文] OPT4048：OPT4048DTSEVM 与我们的新设计之间的 ADC 读数问题（基于 OPT4048&amp；STM32F103C8T6）

尊敬的 Danie：

谢谢你。

我还有其他一些问题：

1、当 I2C 设置为突发读取模式时、一个事务中会读取多少个寄存器？ 根据我通过逻辑分析仪捕获的数据、似乎就是这样

  寄存器 00h 至 07h 一起输出。

2 您知道、在我们的设计中、我们使用四个 OPT4048 传感器。 我们如何确保在相同亮度下测试同一 DUT 时 (Test

  DUT（一对一）,测量的照度值是一致的,例如,在±10%? （目的是在中展示一致的性能

  四个 OPT4048 传感器的照度测量。）

  是否可以通过校准来实现这一点？ 例如、我们可以让四个传感器中的每一个测试同一个 DUT、然后还可以测量 DUT

  提供开发板。 以开发板的测量结果作为基准、我们可以校准四个 OPT4048 传感器。

  对校准应用一次性线性回归算法是否有意义？ 你有什么建议吗？   

谢谢  

Nathan

您好 Nathan、

解决您的问题：

在突发模式下、器件会在每 2 个字节后自动将地址指针递增 1、并对所有输出寄存器执行此操作。 波形中显示的行为符合预期。

2.为了便于我的理解,您希望确保您电路板上的所有 4 个传感器都在+/–10%范围内,您想看看是否可以使用我们的 TI 开发板来校准传感器以实现这种精度? 如果是、就像我在上一篇文章对问题 3 的答复中提到的、在将这些器件发货给客户之前、我们已经执行工厂校准以达到+/- 10%的精度、因此这些器件的输出已经在该范围内。  

如果您希望实现比每个器件+/–10%更高的精度、可以将每个器件的输出乘以某个校准系数。 此校准因数的计算方式如下：

校准因数=基准照度/器件照度

我不建议使用 TI 开发板作为参考、因为开发板上的器件是使用与卷带器件相同的工厂校准进行校准的。 我建议使用照度计。

谢谢、
Daniel