主题: IWRL6432 中讨论的其他器件
工具/软件:
您好、TI 专家、
我们将构建一个系统、使用消声室中的角反射器来测量 Tx-SNR 环回 Rx。 我们使用的是 AWRL6432 芯片组和内部设计的天线、并且数据需要专门通过 I2C 提取。 我想问一个基本的问题,因为我缺乏知识。
我们主要使用 motion_and_presence_detection SDK 代码和跟踪/分类配置来实现人员跟踪。 但是、由于角反射器是静止的、因此我们无法获取跟踪的目标信息。 相反、我们的目标是通过点信息推导出 SNR 值。 这种方法是否可以接受? 换句话说、我们是否可以直接使用 Tx-TLV 环回测试点点 Rx 数据中的 SNR (dB) 值?
在没有消声室的情况下测量角反射器时、角反射器的点检测似乎会因跟踪/分类配置而异。 在某些配置中、有时会将单个角反射器检测为多个点、而在其他配置中、则不会检测到点。 对于 Tx-SNR 环回 Rx 测量、我们是否可以基于专为人员跟踪设计的固件、只需调整配置即可确保从角反射器进行正确的点检测? 或者、是否有(我们是否应该使用)单独的 Rx 代码专门用于 Tx-SDK 环回 SNR 测量?
此致、
Taeyoon