[参考译文] TMCS1126：传感器校准

Toktam、  

使用 TMCS1126 进行偏移校准实际上会消除 0A 条件下器件响应的偏移。 执行此操作的伪算法如下：

1.打开器件并测量输出、同时将电流保持在 0A（即，使器件电流路径保持开路，因此没有电流流动）。  

2.测量设备的输出。

3. 根据数据表中列出的理想参考设定点（即 2.5V、1.65V 等）更正测量值,使其返回到理想的参考设定点。 将执行此操作所需的值存储在逻辑中。  

4、向前移动,按此存储值调整测量值。 这个存储的值将有效地抵消器件的偏移。 请注意、您可以对任何给定温度进行此单点校准、以在该点建立您的真实零点、然后在温度升高或降低时从该点开始应用漂移参数。  

Toktam、  

对不起,我错过了这里的“过热“。 我来逐个列出这些项目符号。

“我想听你的想法。  校准温度范围内的失调电压  保持在该范围内、并希望知道该过程、而不是一般失调电压校准。

从本质上讲、这样做是大致相同的过程、但由于热漂移的变化、通常不是常用的过程：

理想的方法是在各种温度点进行多点过程、以映射 所需温度范围内的偏移并在点之间进行插值。 这需要设计中的温度传感器来监测工作的环境温度、然后采用算法在捕获的数据点内插、以确定电流偏移并对其进行校正。 这里的更大挑战是必须逐个器件地完成这项工作、因为每个器件的热漂移都会有差异。  

-在那里  另一种方法  尤其是在电流较低的情况下、我可以减小整个生命周期内的总误差吗？

很遗憾、我没有什么可以推荐的。 由于霍尔传感器固有的噪声、通常会远离以进行较低的测量。 请注意、计算器的误差分析中不考虑噪声、因此建议进行过采样和求平均值、以便在本底噪声接近时获得最佳结果。  

-我想,整个生命周期的误差计算是 30 年。 如果我认为寿命为 10 年、这对误差有何影响？  

通常、TI 寿命漂移数据标准为 10 年。 无论是在估算还是应用方面、寿命漂移都是一个复杂的问题。 LTD 是通过使用 Peck 模型进行加速寿命测试以人为地对零件施加压力并得出最终值来确定的。 遗憾的是、几乎所有提供寿命数据的 IC（这也是信息的范围）、只是加速测试结束时的最终值。 随着器件老化、在额外的隔行校准之外、无法进行太多的校正、这在大多数应用中是不切实际的。

Toktam、  

您认为固有的偏移和灵敏度是正确的。 我关于过采样的评论只能帮助改善噪声响应、这将保持在标准的奈奎斯特标准、因此您可以为在奈奎斯特采样的 4 倍速率拾取额外的 ENOB。