This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] TMCS1123:VOUT 和 VREF 上出现意外输出

Guru**** 2769425 points

Other Parts Discussed in Thread: TMCS1123

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/sensors-group/sensors/f/sensors-forum/1610171/tmcs1123-unexpected-output-on-vout-and-vref

部件号: TMCS1123

您好团队:

我的客户正在评估 TMCS1123A1A、但在 VS=5V 的情况下、这些器件会在 VOUT (=1.9V) 和 VREF (=1.2V) 上获得意外的输出。  

你听说过这样的现象吗? 我不确定这种现象的原因...

  • HW 设置:EVM
  • Vs=5V ->预期的 VOUT 和 VREF=2.5V
  • IC:从 DigiKey 购买((EVM 上的原始 IC 输出预期信号。)  

此致、

Shotaro

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好 Shotaro、  

    感谢您发送编修。  

    我以前没有见过这样的东西。  

    在这种情况下、您能否提供器件的 IQ?  

    您能否提供您的客户如何探测 EVM 上的输出和基准引脚的图片?

    期待您的答复、  

    Joe

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好 Joe、

    1. VS=5V 时的 IQ 为 11mA。 它应该是正常的结果。  
    2. 我附上了一张测量设置图片。

    此致、

    Shotaro

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好 Shotaro、  

    感谢您提供这些图像并确认 IQ 正常。

    现在我想确认是它们与 EVM 的连接、还是器件因某种原因损坏。  

    • 它们是否有示波器探头、可以直接在器件的引脚上进行探头?
      • 这是为了排除可能导致压降的电线连接上的任何电阻。  
    • 他们是否有另一个可以用 EVM 上的当前 TMCS1123 替换的 TMCS1123 单元?  
      • 这将确认其测试的设备是否损坏。  

    期待您的答复、  

    Joe

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好 Joe、

    问题 1: 它们是否有示波器探头、可以直接在器件的引脚上进行探头?

    答 1。 否、但根据 A2、探测不会导致问题。

    问题 2: 他们是否有另一个可以用 EVM 上的当前 TMCS1123 替换的 TMCS1123 单元?

    A2。 EVM 上的原始器件显示了预期结果(预期的 VOUT 和 VREF=2.5V)。 然后更换其他 IC(4 个)、它们会显示意外结果、结果与第一个 POST 相同。  

    此致、

    Shotaro

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好 Shotaro、  

    这是非常奇怪的。  

    我想看看他们是否可以探测从 4 个新 IC 引脚中的任何一个到 EVM 上的测试点的电阻。

    这样可以排除 DUT 的任何焊接问题。  

    似乎有很多通量、此测试将彻底检查、确保所有 EVM 与 DUT 的连接都正常。  

    此致、  

    Joe

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好 Joe、

    这是您请求的附加测试。 结果相同...

    我们注意到、IC(输出意外信号)是旧的生产日期代码(=RTM 日期)。 这可能是问题吗?

    此致、

    Shotaro

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好 Shotaro、  

    您能给我发送一张带有错误输出基准的器件的顶部标记图片吗?

    我无法从您之前的图片中清楚地看到它。

    我将尝试跟踪该器件。  

    此致、  

    Joe

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好 Joe、

    我询问了生产日期代码和批次代码。 以下是 具有错误输出基准的器件的量产信息。

    生产日期代码:2340

    批次代码:3714952TW3

    此致、

    Shotaro

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好 Shotaro、  

    我正在与我们的团队一起研究这一点、明天我将提供最新信息。  

    感谢您的耐心、  

    Joe

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好 Shotaro、  

    此时、我认为最好在实验室中完成评估的故障分析流程。

    这些测量值与适当的修整或性能并不一致。  

    此致、  

    Joe

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好 Joe、

    没问题。 让我向客户介绍故障分析流程。

    此致、

    Shotaro