[参考译文] IWRL6844EVM：奇怪的数据测量和 mmWave Studio 问题

您好：

我一直在尝试解决我这边的一个问题。 我重新安装了 MMWAVE_L_SDK_06_01_00_05 、删除了 RSTD 文件夹、并使用可视化工具重新刷写电路板、显示以下图像：

C:\ti\MMWAVE_L_SDK_06_01_00_05\mmwave_l_sdk_06_01_00_05\examples\mmw_demo\mmwave_demo\prebuilt_binaries\xwrL684x-evm\mmwave_demo.release.appimage

之前、我使用的是电路板随附的出厂软件。

完成这些步骤后、信号质量在形状和稳定性方面有所改善、但产生的点云仍然与我在重新安装之前获得的点云不匹配。

在 mmWavestudio 中、所有操作均完成且无错误。 Lua 配置文件和.bin文件的后处理与之前的设置相同。 软件版本看起来也相同、我认为这是电路板的出厂固件映像。

尽管如此、我仍然无法恢复原始信号行为和点云结果。 在我看来、一切似乎都与之前的设置一致、因此我不确定是什么原因导致了这种差异。

您能否提供有关恢复原始信号行为所需的任何其他步骤或检查的建议？

此致、