我们希望在 RFID 读取器中使用数字开关霍尔效应传感器作为篡改保护。
RFID 意味着频率频带 HF (13.56MHz)和 LF (125kHz)。 我们需要研究两个频率带。
如您所知、天线场是连续变化的、场中的正弦信号的周期远小于传感器采样范围。 峰值放大场可能会达到传感器 Bop、BRP 级别。
RFID 天线场可能会干扰传感器在峰值点的感应。
目标传感器类型
| DRV5021A2QDBZR |
| DRV5021A3QDBZR |
| DRV5023BIQDBZR |
| DRV5032AJDBZR |
| DRV5032ZEDBZR |
| DRV5033FAQDBZR |
| DRV5033AJQDBZR |
您能告诉我有关干扰的任何信息吗？
天线磁场是否会干扰感应？
您能否详细介绍传感器内部采样过程(使用瞬时采样还是平均采样)？
对于我们的应用、您更喜欢哪种传感器类型？
参考文献：
Attila
Attila、
器件将在采样周期内对输入进行平均值计算。 如果该平均值在采样时间结束时超过 BOP 阈值、则器件将触发。
这意味着、如果标称状态通常小于 BOP、超过 BOP 的交流磁场的峰值突发不一定会导致触发事件。
此外、对于霍尔效应、传感器仅对与霍尔元件垂直的磁场分量敏感。 例如、我们可以强制电流沿 Y 方向流经导体、在 Z 方向施加磁场、并测量元件在 X 方向上的电压差。 如果天线的磁场不在传感器的灵敏度方向、则不会对传感器产生影响。
此应用有几种方法。 如果您的目标是检测外壳开口、则可以放置一个磁体、以使霍尔效应开关保持 BOP 状态。 如果放置得足够近、则磁场可能不会受到 RFID 的影响而导致 BRP 事件。 但是、一旦打开封装并将磁体从传感器附近移除、您就能够通过检测 BRP 情况来检测篡改事件。 如果这是电池供电运行、则最好使用具有推挽输出的器件。 这 将表明 DRV5032是您考虑的器件的最佳选择。 否则、开漏输出将通过上拉电阻器消耗恒定电流。
另一种方法是将磁体放置在传感器的 BOP 范围之外。 如果磁体在盖子打开事件期间被强制通过传感器、则器件可能会在正常情况下处于释放状态。 对于此配置、可能需要考虑锁存型器件(如 DRV5012)。 锁存器件保持其当前状态、直到传感器出现相反的极点。 例如、如果盖子闭合条件向器件呈现向下矢量(BRP)、并且磁体在盖子打开期间通过传感器、从而在其打开时导致向上矢量(BOP)、则器件将触发。 触发后、输出将保持低电平(即使磁体已被移除)、直到盖子正确关闭、此时再次出现向下矢量。
谢谢、
Scott
您好、Scott、
感谢您的想法。
[报价 userid="269984" URL"~/support/sensors-group/sensors/f/sensors-forum/1016746/drv5032-digital-switch-hall-effect-sensors-in-rfid-application/3757716 #3757716"]器件将在采样周期内对输入进行平均值计算。您是否在谈论活跃期？
在 DRV5032上、TACTIV=40us (活动时间周期)、比125kHz 的 Tperiod of freq 长5倍。
在 DRV5032上、主动时间=40us (活动时间周期)、比13.56MHz 的 Tperiod 频率长542倍。
我想、我很了解传感器背后的物理原理。 如果天线正好放置在 PCB 的底部、尽可能靠近顶部 HAL 传感器、则 HAL 传感器的最佳位置。 在这种情况下、天线磁矢量对传感器的影响最小(垂直)。 我是对的吗？
Attila
对于您绘制的场、应尽量减小影响、因为预期该场主要与 PCB 表面平行。 如果放置在理想位置、则会导致器件没有输入。
对于 DRV5032、Tactive 是器件对磁场进行有源采样的时间。 这比采样间隔短得多。 在 ICC 为低电平时、器件处于低功耗状态且不执行任何转换。
谢谢、
Scott
