https://e2e.ti.com/support/sensors-group/sensors/f/sensors-forum/603214/lmt01-rf-susceptibility
器件型号:LMT01是否有人曾在射频测试期间看到过受影响的温度读数?
我们可以看到 在350MHz 时对温度的影响。
我们提出的几个想法是:
- PWM 上的拍频?
- GPIO 引脚上的电压轨变化
欢迎提出任何建议或随机思考。
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器件型号:LMT01是否有人曾在射频测试期间看到过受影响的温度读数?
我们可以看到 在350MHz 时对温度的影响。
我们提出的几个想法是:
欢迎提出任何建议或随机思考。
EMC 测试是单步频率。 从80至1000MHz 扫描。 我们在10V/米下以大约320MHz 的频率进行测试、以进行易感性测试。 方向(Horiz/Vert、正面、背面、A 侧、B 侧)并不重要。 温度读数受负系数的影响。 例如 、环境温度为84°F、频率为 扫描范围为200至320MHz、报告的温度分别从84°F 降至-10°F。
PCB 上 ADS131模拟前端的读数也会在320MHz +/- 25MHz 范围内产生影响。 之所以提到这 一点、是因为 AFE 的温度读数用于调节 LMT01的温度。 我不知道问题是否出在 TI 的任一器件、我们的电源、这两个器件等
我正在检查原理图/布局布线回顾。