[参考译文] IWR1642：test_adcbuf.c 中的 testPattern 问题

Chris、

IWR 器件的 TRM 提供有关 ADC 缓冲器测试图形生成功能的信息。 我已链接到以下文档：

测试图形发生器的说明见1118页。 此外、可在561页找到用于配置测试图形发生器的 TESTPATTERNVLDCFG 寄存器定义。

最后、图12-1和12-2提供了测试图形发生器工作原理的良好视觉解释。

如果您需要任何其他信息、请告知我们。

此致、
Kyle

Kyle、

感谢您的信息！ 在您的帮助下、我发现下面的代码可以配置测试 模式。

   /*配置测试图形生成*/
   testPatternConf.period = 255；
   testPatternConf.numSamples = sample；

   对于(通道=0；通道< 4；通道++)
   ｛
       testPatternConf.rxConfig[通道].rxIOffset  = 0x0；
       testPatternConf.rxConfig[channel].rxIInc      = 0；
       testPatternConf.rxConfig[通道].rxQOffset = 0xFFFF；
       testPatternConf.rxConfig[channel].rxQInc     = 0；
   ｝

但我仍然有疑问。 周期是多少？ 当我们使用连续模式 进行测试模式时、测试模式将连续重复。 这一段似乎没有什么用处。

我还尝试使用高速数据转换器专业版通过 TSW1400捕获 LVDS 数据。 但我发现16位数据的第一个位被反转。 也就是说、如果我将图形设置为上述代码、我将获得0x8000、0x7fff、0x8000、0x7fff 的数据。 为什么第一个位被反转？ 我的高速数据转换器专业版设置如下所示。 我更改  了 HSDC Pro 中的输出数据速率、但似乎没有效果。

我使用的连续模式配置与 xWR1642文件夹的 SDK 1.0捕获演示中的 capture_demo_script_lvds_cont_mode.txt 相同。

尊敬的 Chris：

我正在研究这个问题。 我将使用您生成的测试模式运行捕获演示、并尝试跟踪一直到 HSDCPro 捕获的数据、以查看位翻转的位置。 此外、我使用的配置与您所使用的配置相同、以确保我们的设置完全相同。  

快速问题，只是为了验证，在运行捕获演示时，是否选择:Option #3: MSS 负责控制路径，DSS 负责数据路径”或其他选项之一？

此致、
Kevin
 

[引用 user="Kevin Ortiz"]快速问题，仅为了验证，在运行捕获演示时，您是否选择了:Option #3: MSS 负责控制路径，DSS 负责数据路径"或其他选项之一？

我总是尝试使用选项3。

尊敬的 Chris：

我们最终了解了为什么 MSB 位被翻转。 HSDCPro 中的.ini 文件(在本例中为 AWR16xx_lvds_4Channel_ddr_4bit_par_center_16_bit.ini)基本上会将0x8000添加到接收到的每个值中。 这就解释了为什么 MSB 位始终与我们期望的结果发生翻转。 我们目前正在研究其用途以及是否可以禁用它。

此致、
Kevin