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[参考译文] IWR1443：氧化天线和散热器区域的影响

admin
Guru**** 2587365 points
Other Parts Discussed in Thread: IWR1443

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/sensors-group/sensors/f/sensors-forum/613534/iwr1443-effect-by-the-oxidized-antenna-and-heat-sink-area

器件型号：IWR1443

您好！

我的客户发现其 IWR1443 EVM 的天线和散热器区域氧化。 这将如何影响射频 TX/RX 和 OOB 演示的检测结果？

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    TI__Guru**** 2587365 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    您好 Chris、
    用户指南建议在不使用 PCB 时将其放置在 ESD 袋中、以减少氧化的可能性、请参阅 EVM 用户指南的"PCB 存储和处理建议"部分。
    Rogers 提供的信息是、这种氧化不会影响射频性能、但我们建议通过适当的处理和存储来避免这种氧化。

    此致、
    Vivek
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    TI__Guru**** 2587365 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    尊敬的 Chris：

    正如 Vivek 提到的、我们已经就这个问题与 Rogers 谈过。 这似乎只是一个表面问题。

    其原因是、形成的银氧化物(变光)与镀银本身具有相当大的导电性。 曝光银浸没电路的长期测试显示长期性能没有真正的差异(插入损耗或回波损耗)。 因此、您应该看到天线或传输线路性能没有真正的差异。

    请告诉我们、这是否回答了您对此主题的所有问题。

    谢谢、
    Randy