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[参考译文] DDC114:测试模式中的偏移值

Guru**** 2589275 points
Other Parts Discussed in Thread: DDC114

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/sensors-group/sensors/f/sensors-forum/611404/ddc114-offset-values-in-test-mode

器件型号:DDC114

您好!

我们正在评估 DDC114、我看到一些奇怪的行为。  

我正在使用连续 250Hz CONV (2ms Tint)、4MHz CLK 运行最简单的配置、并触发掉 DVALID 以在测试保持高电平时获取80位数据

我看到接收到的前2个值(输入4和3)大约为3000个计数(因此为负值)、而接下来的2个值(输入2和1)大约为4000、这看起来更正常(大约为0%满量程)。 当我离开测试模式并测量实际输入电流时、会出现这1000个负偏移。

我的问题是、在测试模式下、设计良好的 PCB 中的预期值是多少?哪些因素会导致仅在2个通道上出现该偏移?

谢谢、

石油公司

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    您好、Petros、

    您能否告诉我们在非测试模式下但未在所有四个通道上施加输入电流时的输出失调电压?
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    您好 Praveen、

    当我在绝对黑暗条件下离开测试模式(我的输入是光电二极管)时、我会得到类似的结果、因此我读取的前2个值是3100-3200计数(输入4和3)、后2个值是4000-4100

    谢谢