尊敬的先生:
我会更详细地介绍 DRV5053OA 灵敏度变化。
我在数据表中找到了温度变化图4、但图比例不是很准确。
=>是否可以获得仅 OA 版本和宽量程的相同数字?
灵敏度精度在整个温度范围内看起来相当平坦。
=>这种趋势是否适用于生产中的所有批次? 我的意思是,尽管工艺有变化,但由于温度的变化在生产过程中的每个芯片中是否几乎是平坦的?
=>仅由于温度变化而导致的灵敏度变化是多少? 我的意思是在工作温度范围内有多大程度的偏离(不包括工艺偏差)?
提前感谢您的回复。
此致、
Paul
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尊敬的先生:
我会更详细地介绍 DRV5053OA 灵敏度变化。
我在数据表中找到了温度变化图4、但图比例不是很准确。
=>是否可以获得仅 OA 版本和宽量程的相同数字?
灵敏度精度在整个温度范围内看起来相当平坦。
=>这种趋势是否适用于生产中的所有批次? 我的意思是,尽管工艺有变化,但由于温度的变化在生产过程中的每个芯片中是否几乎是平坦的?
=>仅由于温度变化而导致的灵敏度变化是多少? 我的意思是在工作温度范围内有多大程度的偏离(不包括工艺偏差)?
提前感谢您的回复。
此致、
Paul
尊敬的 Paul:
=>是否可以仅针对 OA 版本获得相同的数字并获得较宽的比例?
=>这种趋势是否适用于生产中的所有批次? 我的意思是、尽管工艺存在差异、但由于温度而导致的变化是否在生产过程中的每个芯片几乎是平坦的?
该图表示典型单元的灵敏度与温度变化。 因此、从统计角度而言、这种趋势适用于生产中的所有批次。 但是、您测试的特定单元可能会在相同温度增量下显示更大或更小(百分比)的灵敏度变化。
=>仅由于温度变化而导致的灵敏度变化是多少? 我是说在工作温度范围内有多大的敏感性(不包括过程偏差)?
遗憾的是、该产品的灵敏度温漂尚未表征、我们在生产中未测量此参数。 根据上面的图、在极端温度下、典型的灵敏度漂移可能约为10%峰间值。
此致、
Harsha