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[参考译文] AFE5809:AFE5809输出 LVDS 位 CLKS

Guru**** 2581345 points
Other Parts Discussed in Thread: AFE5809

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/sensors-group/sensors/f/sensors-forum/647471/afe5809-afe5809-output-lvds-bit-clks

器件型号:AFE5809

抽取确实会将有效数据速率(丢弃实际样本并替换为零)降低等于抽取因子 M=16的因子、而 FCLK 和 DCLK 保持与抽取前相同。 如果可以根据抽取因子降低输出时钟速率、工程师会更友好吗?

例如、在声纳字段中、感兴趣的信号频率始终低于400kHz、但 AFE5809具有20MSPS 的最低采样率、这意味着14位 ADC 的 DCLK 频率为140MHz。 对具有100个通道(对于某些成像声纳而言非常常见)的 PCB 板进行成像、并且板上将有100条高频迹线、这可能给硬件工程师带来巨大的挑战。

如果 可以根据抽取因子 M 降低输出时钟速率、则寿命可能更长。 对于20的 M、实际输出数据速率为1MSPS。 考虑到解调级输出为16位 I 通道和 Q 通道、每个采样将具有32位、因此输出位时钟频率可能仅为16MHz (DDR)。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    尊敬的 Feng:

    感谢您的反馈。 遗憾的是、AFE5809不支持降低位时钟频率以匹配抽取后的新有效数据速率。
    该器件确实支持使用数据表中表13和图87中详述的其他 ADC 的样本替换一些丢弃的数据。

    此致、
    Olu
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    是的、我注意到了这一点、这可能会大有帮助。 谢谢!