https://e2e.ti.com/support/sensors-group/sensors/f/sensors-forum/640642/afe5401-q1-afe5401
器件型号:AFE5401-Q1您好!
我支持的客户之一有以下问题。
我们使用 AFE5401Q1前端芯片。
已使用的数据表:2014版和2017版 AFE5401Q1
CLKINP/CLKINM 输入电路有问题:
- 在数据表中:输入是自动检测:DIFF 或单端
数据表中:用于选择 CLKIN 类型(DIFF 或单端)的寄存器位(寄存器1、位2)
Q1:为什么在自动检测可用时会有一些变化?
Q2:寄存器位是什么? 该位是否比自动检测或其他方式具有优先级?
问题3:我们在设计中使用单端,我们是否需要将此位设置为“单端”,或者它是否无关?
Q4:是否需要设置其他位以获得正确的 CLKIN 设置?
之所以提出所有问题、是因为我们在 DSYNC1/DCLK 输出端看到了奇怪的行为。 这取决于如何驱动 CLKINP。 该时钟输入驱动多个内部电路。 (ADC/DSYNC/D[0-11]、GPIO、DCLK 等)
ADC 电路看起来工作正常、但仍然工作正常。
DSYNC1输出确实显示了奇怪的行为、许多 DSYNC1脉冲被省略。
我们还看到 DCLK 输出有时会产生奇怪的反应(时钟不稳定)
Q5:能否解释为什么 ADC 电路看起来正常、DSYNC/DCLK 为 NOK? (两者使用相同的输入时钟!)
当我们使用新生产日期代码(1706)开始生产之前使用 Datecode 1440制造的所有产品时、这些问题就会显现出来。
Q6:AFE5401芯片的生产中是否有任何变化会导致我们的问题?
如果有更多有关 AFE5401的文档、除了 TI 网站上提供的文档外、请告诉我。