[参考译文] AWR1243：测试图形生成配置

您使用的是 Radar Studio 的哪个版本？

谢谢你
Cesar

我将 Radar Studio v1.9.1.0与 MMWAVE_DFP_00_09_01_06搭配使用

Dustin、您好！
请在下面查找我的回复：

1) testPattern Gen Timing ->在文档中，它声明在200MHz 的系统时钟上输出样本。 这与数据时钟/帧时钟有何关系。 在我的 FPGA 逻辑内部、帧时钟为9.375MHz、但我无法确定这是如何管理的。

在常规雷达操作中、由 ADC 采样率生成的 ADC 数据通过 LVDS 发送。 一个样本对应于每个 RX 通道上的1组复杂数据(I 和 Q)。 但在 LVDS 测试模式下、没有 ADC 样本。 用于决定输入数据生成速度的等效"采样"由200MHz 内部时钟控制。 例如、如果将此参数选择为50、则会以200/50 =4Mhz 速率生成数据。 这与使用4MSPS ADC 速率类似。 它与帧时钟无关。

2) testPattern Pktsize ->在文档中、它指出有效范围为64 - 1024 (4 RX Complex)、64 - 2048 (4 RX Real)、64 - 2048 (2 RX Complex)和64 - 4096 (2 Rx Real)。 但是、在 RADAR Studio 中、我无法设置大于255的值。

我们将对此进行检查并返回。 我想这是在最新的 Radar Studio 封装(DFP 1.0)中修复的

3) Value Rollover ->我在下面提供了一些图形。 我的第一个测试具有不同的起始值和增量值、但我无法理解线路上的情况、因此我简化了一个通道 I 值递增、其余的全部为零。 当我接收到数据时、RX3 I 通道递增1、但在计数达到7后、它重新从0开始。

4) Random Values ->我在移位寄存器后附加了一个芯片范围图数据、并在十六进制编辑器视图中添加了收集的数据(十六进制编辑器数据打包 RX0-3 I、RX0-3 Q)。 RX0-2 I/Q 均为零、但 RX3 Q 似乎是随机的起始值、并随机切换到不同的值。

TestApttern Gen 时序设置为 LVDS 无法处理的极高采样率。 数据速率应远低于 LVDS 输出速率、以便所有数据都可以在改写之前进行传输。 在您的示例中、您将使用复杂的4个通道设置200MSPS。 IE 将提供25600 Mbit/s 的数据速率 但 LVDS 速率(4条信道)仅为600*4=2400Mbits/sec 因此、您需要降低采样时钟速率。

此致、
Vivek

Vivek、

感谢您的回答。  DFP 1.0修复了问题#2。   关于1、3和4、请参见下文。

根据您对问题1的解释、测试图形发生器是否恰好是填充 LVDS FIFO (CBUFF)？ 是否由用户来配置测试图形发生器、这样芯片上不会发生上溢和/或下溢情况？  例如、如果我将 LVDS 设置为900Mbps、但将测试模式生成配置为非常低的值、例如1MSPS (200 / 200)、那么是否会发生下溢？  LVDS 有效标志是否会取消置位？  LVDS 帧/数据时钟是否仍会继续？

杜斯坦