[参考译文] AWR1843AOPEVM：如何使用升压板进行调试

感谢响应,但在其他线程我得到了 使用 CCS 调试的响应我需要 MMWAVEICBOOST  
e2e.ti.com/.../awr1843aopevm-xds110-debug

谢谢 Josh

我已购买 https://www.ti.com/tool/TMDSEMU110-Uc以调试 AWR1843AOP 电路板。
我已经通过调试器上的调试端口( CTI - 20连接)和我的 awr1843aop 板上的 JTAG 接头 J7连接了调试器

我已经刷写了调试.bin 文件、然后又创建了一个新的.crxml 文件以供调试、同时测试连接取得成功

库组件版本为'35.35.35.5.0'。
控制器不使用可编程 FPGA。
控制器的版本号为"5"(0x00000005)。
控制器的插入长度为"0"(0x00000000)。
此实用程序将尝试重置控制器。
此实用程序已成功重置控制器。

-------- [打印重设命令硬件日志文件]----------

通过切换 JTAG TRST 信号可重置扫描路径。
控制器是具有 USB 接口的 XDS110。
从控制器到目标的链路是直接的(无电缆)。
该软件针对 XDS110功能进行了配置。
控制器无法监控 EMU[0]引脚上的值。
控制器无法监测 EMU[1]引脚上的值。
控制器无法控制输出引脚上的时序。
控制器无法控制输入引脚上的时序。
扫描路径链路延迟已精确设置为"0"(0x0000)。

-------- [在 JTAG IR 上执行完整性扫描测试}-->--------

此测试将使用64个32位字的块。
此测试将只应用一次。

使用0xFFFFFFFF 执行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用0x00000000进行测试。
扫描测试：2、跳过：0、失败：0
使用0xFE03E0E2进行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：0
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：0
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：0
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：0
所有值均已正确扫描。

JTAG IR 完整性扫描测试已成功。

-------- [在 JTAG DR 上执行完整性扫描测试-------------------------------------------------------

此测试将使用64个32位字的块。
此测试将只应用一次。

使用0xFFFFFFFF 执行测试。
扫描测试：1、跳过：0、失败：0
使用0x00000000进行测试。
扫描测试：2、跳过：0、失败：0
使用0xFE03E0E2进行测试。
扫描测试：3、跳过：0、失败：0
使用0x01FC1F1D 进行测试。
扫描测试：4、跳过：0、失败：0
使用0x5533CCAA 进行测试。
扫描测试：5、跳过：0、失败：0
使用0xAACC3355进行测试。
扫描测试：6、跳过：0、失败：0
所有值均已正确扫描。

JTAG DR 完整性扫描测试已成功。

[结束：Texas Instruments XDS110 USB Debug Probe_0]

但在调试或连接到目标器件时仍会出现此错误、

连接到目标时出错：
(错误-1170 @ 0x0)
无法访问 DAP。 复位器件、然后重试此操作。 如果错误仍然存在、请确认配置、对电路板执行下电上电、和/或尝试更可靠的 JTAG 设置(例如、降低 TCLK)。
(仿真软件包9.12.0.00150)

Josh、您好！

在所有模式下进行了测试、例如闪存、功能和 MMWAVEICBOOST 模式(JTAG)仍然收到相同的错误

塔诺普-  

请看一下您的设置和/或提供您连接所有设备的方式图。 谢谢！