主题: SFRA 中讨论的其他器件
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我计划实现控制算法、即 CC 和 CV 环路。 来满足我在实施频率下的需求。 与此相关、我找到了一份具有两个通道的 TI 相关电池测试仪设计文档。 文档编号为: TIDA-010087(100A 两相数字控制电池测试仪参考设计)。 浏览这个文档时、他们最初会发现受控体的频率响应、此时的相位裕度为 6.66 度。 通常、相位裕度应大于 45deg。 然后我们可以判断系统是稳定的。 来增加文档中的相位裕度 添加了双极点和 2ZERO 补偿器。 此时、提到的频率如所示 15.625kHZ 相位裕度为 51.33 度 对于、考虑了相同的频率 控制环路实现 (CC 和 CV) 和 ADC 采样频率。
我的怀疑是所提到的频率是补偿器调优频率或受控体+补偿器调优频率。 请说明我的理解是正确的、或者我需要以不同的方式进行分析。
之后、再次将频率响应显示为开环、这意味着获得了开环中的补偿器和受控体并检查相位裕度等等。 是对的。 ?
我也尝试使用实现 MATLAB 软件。 根据 i 获得的相位裕度实现初始电流到占空比传递函数得到的波特图、如所示 4.74 度 然后、我的传递函数以我的开关频率转换为连续域到离散域。 然后我实施了 MATLB 中的 sisotool 来设计补偿器。 在补偿器编辑器中、我添加了 2 极点和 2 零点 传输到系统、并通过调整调整来调整补偿器 获得的增益和相位裕度为 45 度、这次我的频率为 6.78kHZ。 因此、我需要使用该频率作为控制环路频率和 ADC 采样率 或 从 MATLB 获得的补偿器应添加到受控体中、总体传递函数应实施波特图并获得相位裕度和频率。 我应该使用该总体获得的受控体+补偿器频率来控制环路频率和 ADC 采样率。
请用更好的方式阐明我的设计方法。

