This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] TIDM-02013:为什么在采用 LMG3522R030 的半桥中对低侧 GaN FET 使用隔离?

Guru**** 2492385 points
Other Parts Discussed in Thread: LMG3522R030, TIDM-02013, ISO7710

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/tools/simulation-hardware-system-design-tools-group/sim-hw-system-design/f/simulation-hardware-system-design-tools-forum/1557745/tidm-02013-why-is-isolation-used-for-the-low-side-gan-fet-in-a-half-bridge-with-lmg3522r030

器件型号:TIDM-02013
线程中讨论的其他器件:LMG3522R030ISO7710

工具/软件:

您好、

我将使用 TI 的 GaN FET 解决方案 LMG3522R030 来设计一个 EV 充电器、然后使用评估板  TIDM-02013 作为参考。 我有一个问题:为什么在半桥中为低侧 GaN FET 使用 ISO7710 隔离器和隔离式推挽式电源? 在电路板上、PGND 在电源侧和控制侧之间共用。 我知道高侧需要隔离、但我不认为原因是在低侧隔离。

谢谢、

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    在采用 LMG3522R030 GaN FET 的 TIDM-02013 设计中、ISO7710 隔离器和隔离式推挽电源用于低侧 FET、以保护控制电路 (C2000Tm MCU) 免受 FET 快速开关(高达 150 V/ns) 引起)引起的高频噪声、dV/dt 瞬态和接地反弹的影响。 即使使用通用 PGND、这种功能隔离也可在嘈杂的 7.4kW EV 充电器环境中确保信号完整性和系统可靠性。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    感谢您发送编修。