您好!
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您还能不能参考这些芯片是否可以 使用 IEEE 标准边界扫描1149.1进行测试?
或者、您是否有适合所需测试可能性的替代芯片? 谢谢。
此致、
Nikhilesh
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您好!
您还能不能参考这些芯片是否可以 使用 IEEE 标准边界扫描1149.1进行测试?
或者、您是否有适合所需测试可能性的替代芯片? 谢谢。
此致、
Nikhilesh
您好、Rakesh、
感谢您提供信息。 我将按照建议重新布置新线程。
至于边界扫描、通常符合边界扫描测试功能(IEEE 1149.1)的芯 片以菊花链方式相互连接、包括 PCB 上的 MCU 单元。 在 JTAG 的帮助下、可以有效地测试 PCB 的完整功能、例如所有组件的输入和输出、焊接问题、布线问题、组件之间的互连等、而无需物理探头或在 MCU 上运行的程序。 那么、我想知道这些芯片是否可以做到这一点? 或者是否存在具有此可能性的替代方案。
此致、
Nikhil