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[参考译文] TIDA-00489：生产后用于功能测试的测试探针

admin
Guru**** 2589245 points


请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/tools/simulation-hardware-system-design-tools-group/sim-hw-system-design/f/simulation-hardware-system-design-tools-forum/770264/tida-00489-test-probes-for-functional-tests-after-production

器件型号：TIDA-00489

嗨、大家好、

我们计划使用 TIDA 00489设计制造 PIR 传感器。 我们将需要一个测试台来确保生产的传感器正常工作。

我们目前正在计划测试引脚：

  • VCC
  • GND
  • 比较器输出(低电平和高电平)
  • 允许闪存的附加测试引脚：RESET、JTAG_TMS、JTAG_TCK

我们将删除串联生产中的 JTAG、因此我们需要额外的测试引脚来允许闪存。

我们已计划对器件进行以下功能测试：

  • 电流消耗、以验证现在的泄漏电流和正确的射频电流消耗行为
  • 射频测试
  • PIR 运动检测测试：如果触发其中一个比较器、则为 Hwi

您是否有任何建议、我们是否应该添加测试引脚、或者您是否建议进一步进行器件测试？

此致

SLV1n

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    TI__Guru**** 2589245 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您是插入"纽扣电池"进行运输、还是由终端用户插入-只是想您确实需要确认电池和电池座连接的完整性。

    我不熟悉此器件、因此只能提出一些"一般"的建议... 对于 PIR 测试未执行的任何信号/功能/模式、您可能需要一些可用于向 DUT 输入信号的引脚来确认所有操作连接是否正常。

    我注意到、该参考设计对于有源/无源模式具有相当长的时间段； 如果无法绕过这些时间或具有测试模式功能、则需要确保 DUT 在测试期间涵盖 PIR、并且可能还需要"对"器件进行"设置、或者在测试点之间具有器件的缓冲存储线路。

    只是几个想法，但不知道设备...希望不浪费时间;-)

    祝您好运！

  • 0
    TI__Guru**** 2589245 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    SLV1n、

    您计划的测试引脚应足以进行您确定的测试。  此外、您确定的测试将包含验证传感器是否正常工作所需的大量测试。  

    如果您还没有、我建议在 PIR 运动检测测试中添加一项测试、以查找覆盖传感器的错误触发器。  我在几个场合中发现、在初始测试中、比较器信号在初始传感器预热后继续切换。  对于表面贴装类型、通常对传感器上的焊料进行返工、解决了此问题。

    此致、

    David

  • 0
    TI__Guru**** 2589245 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    感谢两个评论。 电池已经被执行。 我们正在计划使用某种传感器黑盒，因此用户无需采取任何行动，我们依靠 TI 的低功耗承诺；)

    错误触发器。 在采用表面贴装类型的前50个传感器批次中、我们很少遇到误触发问题。 但是、由于 Murata 停止生产表面贴装类型、我们已经计划使用 IRA-S210ST01进行新设计。