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[参考译文] TIDA-01599:如果测试路径仅为 SIL 1、该电压如何达到 SIL 3?

Guru**** 2012440 points
Other Parts Discussed in Thread: TIDA-01599
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/tools/simulation-hardware-system-design-tools-group/sim-hw-system-design/f/simulation-hardware-system-design-tools-forum/1343647/tida-01599-how-can-it-reach-sil-3-if-the-testing-path-is-only-sil-1

器件型号:TIDA-01599

我阅读了设计指南、工作思想很清楚;有一个带自检和单个故障电阻的双通道;这应该符合 SIL3/PLL 要求。 然而,我没有真正的工作 SILs ,但只与 pls ,所以有一件事我不得到。

如果测试路径和软件仅为 SIL1 (外部 MCU、建议作为 C2000器件)、该方法如何被评为 SIL3/PLD。 如果用于第3类子系统的控制路径中(STO 功能)、MCU 本质上是一个具有60%诊断覆盖率的第1类系统(由于自检)。 这是否会损害整个子系统级别?

或者、解释为:当未检测到监视器中的故障(可作为类别3接受、但不是类别4)时、监视器始终检测到其中一个工作通道中的故障(并且安全功能由另一个通道和/或强制脉冲确保) 但是安全是由工作通道确保的(因为假定只有一个故障、它们都被视为正常工作)。

我漏掉了什么东西吗?

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    感谢您关注 TIDA-01599。

    从功能安全的角度来看、诊断 MCU (SIL1)涵盖了 STO 安全功能的某些器件单点故障(SPF)。 (例如、逻辑门、电阻器)和 SPF 不会损害诊断 MCU、这意味着我们不会同时考虑安全功能和诊断电路的双重故障。 SIL1 MCU 能够处理 SIL3/PLD STO 系统、我们还提供了 FMEDA 文件以了解详细信息。

    除了我提到过的替代说明、将不会同时考虑安全通道和诊断电路中发生的故障。

    诊断电路会监控两个安全通道、并在一个通道中检测到危险检测到故障后使另一个安全通道进入安全状态。

    此致、

    高陈

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    这正是我所想的、谢谢。 因此、最终它是类别2 (针对单独的测试块)和类别3 (针对双通道)之间的混合结构、并且该架构由 FMEA 证明是合理的。 我想需要计算实际性能值、而不是使用简化的类别