工具与软件:
您好!
根据 MIL-1275标准的第5.3.1.1节中的规定、在运行"稳态运行、运行电压范围"测试时、我们的设计遇到问题。 以下是我们的设置和面临的问题的详细信息:
设计详细信息:
- 我们使用经过修改的参考设计、其中唯一的变化是更高电流的 MOSFET 来满足我们的15A 要求。
- 我们使用的是 IXFK220N17T2、而不是原始 MOSFET (IXTT88N30P 和 SQJQ466E-T1_GE3)
发现的问题:
在测试过程中、我们注意到以下部件损坏:
- 第一个钳位电路中连接到 H 栅极(IXFK220N17T2)的 MOSFET 跨所有引脚短路。
- 第一级输出侧的47µF 电解电容器膨胀。
- 第一级钳位电路中的 IC LM74800QDRRRQ1受损。
- 第二级钳位电路中的 IC LM5060Q1MMX/NOPB 也已损坏。
测试结果:
- 在另一个单元上使用200mA 负载时测试通过。
- 然而、测试在电流较高(~3A 和9A)时失败。
对于诊断和解决这些问题的任何见解或建议、我们将不胜感激。 谢谢!
下面给出了 Vin 处施加的电压曲线。 测试从28V 开始并切换到100V (SLEW 100mS)、然后遵循以下曲线